中古 TERADYNE 1004 N #9252878 を販売中

TERADYNE 1004 Nは、自動ウェハレベル試験用に設計されたプローブ装置です。並列に複数のデバイスの完全なパラメトリック・テストを可能にする処理能力と速度を備えています。システムはデジタルコンピュータによって制御され、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）によって遠隔操作されます。要求に応じて3「、4」、6「8」以上のウェーハを収容することができます。このマシンは大容量のストレージを備えており、1000以上のテストベクトルを格納できます。また、パラメトリックテスト設定を最適化するためのいくつかの検索アルゴリズムも内蔵されています。さらに、デバイス内で障害が発生しているサイトを識別できる高度な障害位置タグ（FLT）機能も備えています。自動化されたproberは共焦点プローブカード技術のための新しい設計を特色にします。この技術は、プローブのスポッティング力を集中させることにより、接触プロービング中の精度を向上させます。また、取り付けられたデバイスとテストヘッド間の電気的接触も低くなります。このユニットは、熱応力と物理的損傷からデバイスを保護するためにいくつかの安全機能を備えています。プローバーは、定期的な機械的ストレスとドリフトを防ぐために接触力を評価する機械的プログラムを持っています。また、複雑なデバイスや高圧デバイスをテストする際に過度の電気漏れを防ぐための電気プログラムもあります。試験プロセス中のパラメトリックデータを測定するために、Proberは、時間領域反射計（TDR）、静電容量電圧（CV）、ソースおよびドレイン容量（SCR）などのさまざまな測定技術をサポートしています。また、データのプレビューやグラフィカルシートの生成も可能です。1004 Nはまた、テスト結果に詳細なリアルタイムフィードバックを提供することができます。これにより、さまざまな波形を保存して、テストに失敗した場合のさらなる分析を行うことができます。これにより、エンジニアは失敗したテストのソースをすばやく特定して特定することができます。要するに、TERADYNE 1004 Nは、自動ウェーハレベル試験用に設計された高度なプローバーマシンです。それはあらゆる種類の電子デバイスを迅速かつ正確にテストするための効率的で信頼性の高いプラットフォームを提供します。これは、高度な共焦点プローブカード技術、いくつかの安全機能、強力な測定技術、およびテスト結果のリアルタイムフィードバックを備えています。