中古 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293802367 を販売中

TEL （TOKYO ELECTRON） Proberは、デバイス特性評価と生産ランプ試験のための高度な半導体試験ツールです。半導体ウェーハを自動プロービングおよび測定技術を使用して測定および特性評価するように設計されています。Proberには、さまざまな製造環境に対応する多目的で実行可能な選択肢となる多くの機能が組み込まれています。Proberは、単一のワークステーションでスキャンステージのモーションコントロールと精密計測機能を組み合わせたベンチトップマシンです。これは、解像度の最大12メガピクセルの高解像度CCDカメラが装備されています。Proberは、自動化された柔軟なウェーハステージレイアウトに基づいています。さまざまなウェーハサイズに対応するカスタマイズされたステージセットアップを可能にする交換可能なステージを備えています。Proberは、0。1ミクロンの精度で最大150ミクロンのプローブが可能で、正確なデバイスと材料の特性評価が可能です。Proberには、デバイステスト用のさまざまなハードウェアとソフトウェアオプションが付属しています。デバイスのさまざまな側面を同時に測定できる最大3つのプローブで構成できます。また、カメラベースのウェーハ検査システムを搭載し、デバイスの自動特性評価と欠陥検出を容易にします。さらに、Proberソフトウェアはアプリケーション固有のテストレシピとカスタマイズされたデータ処理、分析、表示機能を可能にします。Proberでは、ウェーハテストは従来の手動技術よりも効率的で正確です。特に、幅広いデバイスタイプの高速かつ信頼性の高い特性評価が可能です。また、システムは定義済みのテストプランに従ってウェーハ上で自動テストを実行できるため、生産ランプテストにも適しています。その結果、Proberはデバイスの歩留まりと効率の全体的な向上に貢献します。TEL/TOKYO ELECTRON Proberは、製造環境向けの高度なテストソリューションです。Proberは、高精度でコスト効率の高い半導体デバイスの特性評価と生産ランプ試験に最適化されています。さまざまな要件に合わせてカスタマイズでき、デバイスの歩留まりを改善し、効率を最適化するのに役立ちます。