中古 TEL / TOKYO ELECTRON Precio XL #293774172 を販売中
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ID: 293774172
ヴィンテージ: 2017
Wafer prober
Auto alignment system (Needle tip, wafer)
Chuck camera unit-II
Bridge camera unit-II
Alarm monitor
Real time wafer map display
480 SQ Direct probe interface
Interface: V93K DD
Single opener loader
Hot chuck
WAPP
OCR
Chuck blow
Flip SACC
GPIB l/F
Cable: 4 m
2017 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio XLは、高精度で高効率な半導体デバイスの試験用に設計された最先端のプローブカードです。高度な技術と革新的な設計を備えたこのプローブカードは、半導体メーカーが製品の品質と信頼性を確保するための重要なツールです。TEL Precio XLプローブカードには、半導体装置との接触試験を行う高密度配列プローブが搭載されています。これらのプローブは、優れた電気伝導性と耐久性を提供するタングステンなどの材料で作られています。プローブカードは、半導体デバイスの電気特性を正確かつ正確に測定し、性能と機能に必要な仕様を満たすように設計されています。TOKYO ELECTRON Precio XLプローブカードの特徴は、高度なキャリブレーションと補償機能です。プローブカードには高度なアルゴリズムが搭載されており、プローブ接触力、アライメント、信号整合性のリアルタイム調整と最適化が可能です。これにより、プローブカードによる測定が正確で信頼性が高く、誤った結果のリスクを低減し、全体的な試験効率を向上させることができます。校正および補償機能に加えて、Precio XLプローブカードは高速試験用にも設計されています。プローブカードは、信号損失と歪みを最小限に抑える低インダクタンス設計で、高周波信号を高速かつ正確に測定できます。このプローブカードは、高速で動作し、その電気特性を正確に測定する必要がある高度な半導体デバイスのテストに最適です。さらに、TEL/TOKYO ELECTRON Precio XLプローブカードは、幅広い半導体試験装置やプラットフォームとの互換性を考慮して設計されています。既存のテスト設定やシステムに簡単に組み込むことができ、半導体メーカーはデバイスのテスト用にプローブカードを素早く展開できます。プローブカードは、交換可能なプローブや校正ルーチンなど、時間の経過とともに最適なパフォーマンスを保証する機能を備え、メンテナンスと保守が容易に行えるように設計されています。全体として、TEL Precio XLプローブカードは、高精度、高速、および信頼性を必要とする半導体試験アプリケーション向けの最先端ソリューションです。高度な技術、革新的な設計、幅広いテストプラットフォームとの互換性を備えたこのプローブカードは、製品の品質と性能を確保しようとする半導体メーカーにとって貴重なツールです。TOKYO ELECTRON Precio XLプローブカードに投資することで、製造メーカーは試験プロセスを合理化し、市場投入までの時間を短縮し、半導体デバイス全体の品質を向上させることができます。
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