中古 TEL / TOKYO ELECTRON Precio Octo #9204395 を販売中

TEL （TOKYO ELECTRON） Prober Octoは、マイクロスケールのプロービング、テスト、故障解析を可能にする高性能マイクロプロービング装置です。TEL/TOKYO ELECTRON Prober Octoは、微細な微細なチップを正確に測定することで、半導体産業の研究開発ニーズに応えます。Prober Octoは、薄膜ヘッド、プロービング位置にICを保持するトレイ、さまざまな接点を可能にするプローブメイト装置で構成されています。TEL Prober Octoは、ウェハレベルとシングルダイプロービングの両方を提供します。プローブカードにはデュアル方向の位置誤差補正機能も搭載されており、自動的に位置ずれや位置ずれに関連するエラーを補正します。TOKYO ELECTRON Prober Octoは「、クローズドループ」と「オープンループ」の両方のプロービング技術を備えた最初の製品です。クローズドループ技術により、関心領域（ROI）とウェーハ識別を使用した正確なプローブ位置決めが可能になり、プローブの迅速なリカバリと再配置が可能になります。一方、オープンループ技術により、非対称パターンを持つより大きな領域またはICのプローブが可能になり、テストサイクルの高速化とプローブの摩耗の低減が可能になります。TEL/TOKYO ELECTRON Prober Octoには、ICの構造を上から下に完全に解析する独自のモーダル解析機能も搭載しています。この機能により、内部構造や層をICの層情報で正確にマッピングするだけでなく、ダイレベルやテストレベルのパフォーマンスを正確に分析することができます。TEL Prober Octoによって提供される広範な機能は、モジュール設計によって実現され、ユーザーはアプリケーション固有の要件のためにモジュールを簡単に再構成することができます。このシステムには、ウエハ識別とトレーサビリティ用のBluetoothスキャナと、異なるインターフェイスタイプを接続するための2つの内蔵アダプタも備えています。さらに、Prober Octoは、東京エレクトロントラッカーユニット（半導体プロセスおよびデバイス検証機）と同様に、さまざまな計測機器と統合することができます。全体として、TEL/TOKYO ELECTRON Prober Octoは、高精度のプロービングと解析機能を備えた半導体研究と開発を提供するよう設計されています。Prober Octoは、クローズドおよびオープンループのプロービング技術、モーダル解析機能、および複数の計測システムとの統合により、プロービングとテストのための効率的で信頼性の高いソリューションを提供します。