中古 TEL / TOKYO ELECTRON Precio Nano #293730256 を販売中
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ID: 293730256
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2010
Prober, 12"
FOUP Loader
CIM: SECS, GEM
Handler system
2010 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio Nanoは、高性能半導体デバイスの試験用に設計されたプローバです。プローバは、幅広い形状を持つシングルダイおよびマルチダイ装置の電気特性を測定することができます。高いスループット、低コスト、柔軟性、精度に重点を置いた幅広いテスト機能を提供します。TEL Precio Nanoはモジュラー設計を採用しており、複数のテストポートで構成されたダブルエンドプローブで構成されています。これにより、オペレータは各アプリケーションの特定の要件を満たすようにproberを構成することができます。Proberはシングルダイとデュアルダイの測定に対応しているため、小型デバイスと大型デバイスの両方の効率的なテストが可能です。このプローブは、テストノード間の寄生容量を最小限に抑えるために低容量で設計されています。プローバは、複雑なテストスクリプトとテスト条件を処理できる自動測定装置によって駆動されます。このシステムは複数のプロトコルを同時に実行できるため、幅広いデバイスの効率的なテストが可能です。このユニットは、ICタイプを自動的に検出し、それに応じて適切なテストを実行するように設計されており、オペレータが必要とする時間と労力を削減します。TOKYO ELECTRON Precio Nanoは、半導体デバイスの効率的な試験用に設計された高性能プローバです。モジュール設計と複数のポート構造を備えているため、さまざまなテスト要件に合わせてproberを簡単に構成できます。複数のテストプロトコルを実行できる高速で正確な自動化マシンを備えています。さまざまな形状や構成を持つ高性能デバイスのテストに最適なツールです。
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