中古 TEL / TOKYO ELECTRON PR200Z #9146543 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z proberは、多種多様な半導体および集積デバイスの試験が可能な、全自動、高精度のウェーハプロービング装置です。このシステムは25µm xy線形ステージを備えており、自動最小プロービングフォース制御と接触調整を実現しています。DRAM、 SRAM、フラッシュメモリ、パワーデバイス、アナログ、デジタルデバイスなど、さまざまな半導体デバイスを分析してテストすることができます。TEL PR200Z Proberには、効率的で信頼性の高い自動負荷/アンロード（A/U）ユニットが装備されており、プローバにテストウェハを自動供給します。このマシンは、X-Yモーションコントロールと効率的な挿入プロセスを内蔵しています。プローバーには直径200mmまでのウェーハを搭載可能で、大型ウェーハの試験に最適です。プローブはクリーンルーム環境で使用するように設計されているため、プローバーの適切な動作を保証するためにはクリーンルーム固有のクリーニングと安全プロトコルのみを観察する必要があります。さらに、自動レチクルチェンジ（ARC）や二軸プレート補正（DAPC）などの高度な技術により、東京エレクトロンPR200Zプローバーを構築しています。これらの技術により、プローバーは3 μ m以下の高精度を維持することができます。PR200Z Proberの堅牢に統合された自動ロード/アンロード（A/U）ツールのおかげで、ウェーハを自動的に配置し、テストを実行し、データを収集することができます。本アセットには、ウェーハ基板上のデバイスの寸法を測定・分析する高解像度カメラを搭載しています。さらに、正確なビジョンアライメントモデルを使用して、プローバ上のウエハ基板の正確な位置を決定できます。このプローバは、自動化されたテストとデータ分析のための堅牢なソフトウェア機器を提供します。また、ユーザーが独自のテストと評価方法をカスタマイズできるカスタムプログラムも幅広く用意されています。これらのプログラマブルパラメータには、テストプローブの構成、遅延時間、強制力、および測定数が含まれます。TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z proberは、半導体デバイスの高精度試験に強固な技術力を提供します。自動ローディングシステム、高解像度カメラ、精密なモーションコントロールを組み合わせることで、TEL PR200Zは多種多様なデバイスを正確かつ一貫してテストすることができます。プログラム可能な機能と自動化された機能を備えたこのプローバは、半導体デバイスの研究開発に最適です。