中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9388106 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XLは、最も要求の厳しいウェーハテストとデバイス評価ニーズを満たすように設計された最先端のプローバです。標準的なTELの高度な性能と新たに開発されたソリューションを組み合わせた1台のマシンで、プローブ接触、電気試験、サンプル検査を可能にします。プローバーには、非常に堅牢な振動と振動のない設計と小さなフットプリントが装備されています。これにより、プローバに割り当てられた小さなスペースでの測定の最大限の精度と再現性が保証されます。さらに、このマシンは高度なマルチステップテストシーケンスプロセスが可能で、安定性試験、特性評価、ウェーハ寿命試験、デバイス評価などのアプリケーションに最適です。TEL P8XLは独自のXY-Protocolを使用し、最適化されたフォーカスと解像度機能を備えた広い視野を提供します。200ミクロンのx-y-z測位システムを搭載したテストヘッドは、プローブと基板の正確な接触を可能にします。TOKYO ELECTRON P8-XLは、プロセスを合理化するために、あらゆるサブミクロンの特徴サイズに最大512点まで対応できるパターン認識技術で設計されています。マシンのもう1つの貴重な特徴は、単一のテストで異なるプローブタイプを切り替えることです。これにより、時間を節約し、ユーザーはさまざまなデバイスパラメータを一度にテストすることができます。また、TEL/TOKYO ELECTRON P8-XLは、テストプロセスで収集されたすべてのデータを単一の結果に組み込む高度なテストを可能にするダイナミックなパフォーマンス機能を備えています。TEL P8-XLのユーザーフレンドリーなインターフェイスは操作が簡単で、直感的でタッチセンシティブなコントロールパネルを提供します。このマシンはまた、内蔵の診断およびサポートシステムを提供しています。警告とアラームの有用な配列は、システムの健全性と潜在的な問題についてユーザーを更新します。TOKYO ELECTRON P8XLは、優れた精度、再現性、適応性を提供する高度でユーザーフレンドリーなテストツールです。これは、電気テスト、デバイス評価、およびウェーハテストアプリケーションの広い配列で使用されます。