中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9388100 を販売中
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ID: 9388100
ヴィンテージ: 2006
Wafer prober
Nickel hot chuck
Hot temperature controller
WAPP
VIP4 Board
2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Proberは、高度な半導体ウェーハ試験用に設計された多目的プロービング装置です。光学、電気、機械的プロービング機能など、幅広いウエハテスト機能を提供します。このシステムは、高い再現性と高速スループットを備えたフルウェーハプロービングが可能です。このユニットは、接触ヘッドとリモートSEMIVプローブヘッドの両方をサポートしており、電気試験用の幅広いプローブチップを備えています。多軸XYZリニアステージにより、さまざまなダイサイズで正確なプローブが可能です。TEL P8XLは、再現可能なプロービングを支援する自動アライメント機能も備えています。このマシンには、プローブを簡単に校正するための完全に自動化された光学調整アライメントツールがあります。オプティカルビューアライメントは、効率的なプロービングを支援するために完全に自動化されており、ウェーハは滑らかで正確な動きのためにエアベアリングに取り付けられています。アセット全体が温度制御され、正確な結果が得られ、校正ドリフトが最小限に抑えられます。TOKYO ELECTRON P8-XLは、プローブ位置を確認できる独自の「チェックパターン」機能を搭載し、ウェーハの迅速かつ正確なスキャンを可能にします。TEL Wafer Mapソフトウェアは、完全なテストデータの保存と分析のために付属しています。結果を外部データベースにエクスポートすることで、さまざまなテストシナリオの比較と分析を容易に行うことができます。TEL/TOKYO ELECTRON P8-XLは、ダイレベル統合試験や選別試験などの先進的なアプリケーションに最適なモデルです。故障解析や欠陥特性評価にも適しています。TOKYO ELECTRON P8XL Proberは、多彩で信頼性の高いプロービング機能を備え、先進的な半導体ウェハテストに最適です。
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