中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9245510 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XLは、半導体ウェハテストの歩留まりを最大限に引き出す高性能プローバです。直径8インチまでのウェーハ試験が可能な全自動装置です。Proberは、画像認識用の高解像度CCDカメラを搭載しており、さまざまなオンボードテストを通じて、パターン化されたウェーハの電気的および物理的特性を正確に測定できます。TEL P8XLは、複数のウエハサイズを1つのパスで分析することができ、スループットの向上と生産時間の短縮を実現します。TOKYO ELECTRON P8-XLは、専用の2軸リニアモーターシステムを搭載し、ウェーハ位置を正確に把握できるウェーハアンロード・トラベラーを搭載しています。最適化された構造は、高剛性リニアガイドを使用してスティックスリップ動作を低減し、正確な動きを実現し、ウェーハの特徴を1 μ mまで確実にテストできます。このプローバは、単一のウェーハおよびウェーハレベルの測定でも複数の測定ポイントをサポートします。プローバには、マトリックス試験や音響分析など、さまざまな試験機能が装備されています。マトリックス試験は、ウェーハ表面の不均一性を検出するために使用され、位置のずれまたは欠陥ダイによる歩留まり損失につながる可能性があります。P 8 XLは、デバイス上のさまざまな場所で電気的および機械的な差異を検出するための電圧試験および指深度測定も可能です。さらに、結合強度、はんだ付け性、ウェハレベルの試験にも使用できます。Proberには、パターン認識、位置補正、データ分析など、さまざまなソフトウェア機能が搭載されています。このソフトウェアを使用すると、複数のテスト実行中に改善点を検出し、問題が大きくなる前に潜在的な問題を特定できます。TEL P8-XLには直感的な機能を備えたユーザーフレンドリーなインターフェースがあり、操作が簡単です。TEL P 8 XLは、最も要求の厳しいアプリケーションに高精度のテストソリューションを提供することができる強力なプローバです。機械の高度な機能と柔軟なプログラミングは、一貫した製品品質と高い歩留まりを確保するのに役立ちます。その優れた技術仕様とユーザーフレンドリーなデザインは、半導体メーカーにとって理想的な選択肢です。