中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9205863 を販売中
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ID: 9205863
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2001
Probers, 8"
Tri temp chuck
Temperature: -40°C to +150°C
Gold chuck
ASU / BCU Vision system
High force z drive: 60 Kg
PTPA:
Accuracy: +/- 4.0 um
Z Accuracy: +/- 5.0 um
Ink dot inspection
Probe mark inspection
Top loader
VIP 3 Board
No OCR
Automatic wafer size adjustment: 100 mm to 200 mm
Wafer pre-aligner
WAPP
Cassette top loader
Single wafer load tray
GPIB Interface
D214 Chiller
2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XLは、電気基板の正確で信頼性の高いプロービングとテストを提供するために設計されたプローバーです。多種多様な用途に対応する基板の試験において、高い精度と再現性を提供するよう設計されています。TEL P8XLには、精度と再現性に優れたさまざまなプロービングとテストの可能性を実現するさまざまな機能が搭載されています。TOKYO ELECTRON P8-XLは、X-Y-Zステージと独自のハンドホイール安定化装置を備えており、プロービングおよびテスト中に試験ヘッド上でサンプルが正しく整列し安定した状態を維持します。このシステムは、一貫して正確かつ正確な結果を保証するのに役立ちます。プローバーには、サンプルの位置とXYZの動きの精度を測定するために使用できる光学アライメントユニットもあります。これにより、結果の正確性と再現性を検証することができます。プローバーのテストヘッドには、試験中に一定の温度でサンプルを維持するサーモエレクトリッククーラー(TEC)も備えています。これにより、より正確な結果が得られ、サーマルドリフトを回避できます。TECはまた、サーマルサイクリングからプローブを保護することにより、プローブの寿命を延ばすのに役立ちます。試験ヘッドには、高速かつ正確なサンプル配置とアライメントの両方を可能にする統合ビジョンマシンも含まれています。これにより、セットアップ時間を短縮し、基板を毎回正確かつ正確に配置することができます。Proberには、デバイスがさまざまなアプリケーションで実行できるようにするいくつかのアクセサリがあります。さまざまなウェハフォーマットをサポートするウェーハディスペンサー、プローブカードを使用せずに1つのダイに接触できるダイレベルのアクティブプローブカード、ウェーハやダイの電圧レベルを正確かつ迅速に測定できる電圧プローブカードツールなどがあります。TOKYO ELECTRON P-8 XLには、効率的かつ正確なデータ収集を可能にする複数のソフトウェアパッケージが含まれています。TELテストセンターは、効率的かつ再現性のあるデータ収集と分析を可能にする自動テストスイートです。ソフトウェアはユーザーフレンドリーで直感的であり、特定のアプリケーションの特定のニーズを満たすためにソフトウェアのパラメータをカスタマイズすることができます。TEL/TOKYO ELECTRON P8-XLは、基板試験において高い精度と再現性を提供する優れたプローバです。ユーザーフレンドリーなソフトウェアと効率的で正確なテストヘッドにより、さまざまなアプリケーションに適しており、精度と再現性が一貫して高いままです。
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