中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9132754 を販売中

TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL
製造業者
TEL / TOKYO ELECTRON
モデル
P-8XL
ID: 9132754
ヴィンテージ: 2008
Prober Wafer ID reader Card holder Operation manual 2008 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Proberは、半導体チップ用ウェーハ試験装置のリーディングカンパニーです。半導体テストベッドに電圧モニタ付きテストヘッドを内蔵しており、さまざまなウェハレベルのテストアプリケーションに適しています。TEL P8XLは、高精度・高精度で幅広いチップの試験が可能です。TOKYO ELECTRON P8-XLは様々な機能を提供しています。これは、大量生産ラインにとって重要なダイ・レベルの電圧レベルを検出する機能を備えています。プローバはまた、チップの信頼性をテストするために有用であるすべての主要なダイパッドの電流漏れを検出する能力を持っています。その他の機能として、二軸サンプルステージの動きや並列配置された光学系などがあり、高精度のウェーハ位置決めと信号の最適な検出が可能です。このシステムは、デバイスの特性評価やエンジニアリングに不可欠なチップの表面および温度特性を測定する機能も備えています。プローブには、高度なウエハコンタクトユニットもあります。接触先端の摩耗を最小限に抑え、ウェーハ測定の信頼性を向上させます。TEL/TOKYO ELECTRON P8XLは、接触力を調整し、幅広い試験条件に最適な性能を提供する独自の引張機構を備えています。また、ウェーハ表面に対してプローブ先端の高度を正確に調整できる自動レベリング機能も備えています。P 8 XLはユーザーフレンドリーなインターフェイスも提供しており、操作と管理が簡単です。これには、複数の表示および構成オプションを備えた使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。強力な診断およびエラーロギング機能により、問題が発生した場合に迅速に診断および修復することができます。全体として、TEL P 8 XL Proberはウェハレベルの試験アプリケーションに最適なツールです。その機能は高い精度と信頼性を提供し、直感的なユーザーインターフェイスは使いやすく維持します。これらすべての機能を備えているので、このプローバが半導体チップをテストするための主要なツールであることは不思議ではありません。
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