中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9131776 を販売中
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ID: 9131776
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2000
Prober, 8"
Gold
Hot Cold
200v
GP-IB Cable
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-10K with brush
Card holder
Manipulator
Wafer table
Printer
SACC: 200/300
Boards:
147-CON
VIP3
GP-IB
TVB9003-1316
QMC#0
QMC#1
DMC3#2
Tester
I/F
M-1
M-2
LST-1
LST-2
PST-STD
PST-OPT
SIO
2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XLは、集積回路の試験、組立、パラメータ化を容易にするために設計されたハイエンド半導体プローバです。この装置は、研究開発分野、生産およびプロセスエンジニアリング分野のアプリケーションに最適です。TEL P8XLは、半導体ウェーハの試験、組立、プロセス工学における高度なプロービングを可能にするさまざまな機能を提供します。このシステムは、8軸電動ステージと2つのマニピュレータを備えており、ウェーハ上の高精度な位置とエリアに簡単にアクセスできます。さらに、ビジョンユニットは完全に自動化されたアライメントを提供し、ミスアライメントを検出するのに役立ちます。自動滑らかなウェーハリフトマシンは、ミスアライメントテスターの問題をさらに排除します。TOKYO ELECTRON P8-XLには、リカリブレーションなしで再利用できる革新的な取り外し可能なファインピッチウェーハスプリングが装備されています。この機能はセットアップ時間を最小限に抑え、コスト削減に役立ちます。また、スプリングの簡単な取り外しと交換を容易にし、テスト障害後の迅速な回復を可能にします。双方向アイソレーションアセット(BIS)により、導体パターンの高精度測定が可能となり、高速試験を実現します。TEL P-8 XLは、チップ変形の正確な測定を容易にする独自の変形測定モデルと、レーザーの焦点に合わせてステージ位置を自動調整することで高精度を保証するレーザーオートフォーカス検出装置を搭載しています。このシステムには、テストヘッドとプローブカードとの迅速で安全な相互接続を可能にするテスターフックアップ機構と、環境に便利で無害なサイレント真空ポンプが装備されています。最後に、ユニットはコンピュータユニットと、排他的な波形解析プログラムを含む、標準的なソフトウェアパッケージの範囲と統合されています。TEL/TOKYO ELECTRON P8XLは、統合試験のための完全なソリューションを提供し、より複雑な構造にも高精度の測定と信頼性の高いテストを提供します。この機械はR&Dの実験室、プロセス工学、また集積回路のアセンブリそしてテストの使用のために完全です。
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