中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293742645 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XLは、半導体デバイスの性能と信頼性をテストするために特別に設計されたプローバです。プローブの位置や動きを正確に制御できる高精度・高速機器です。プローバーは、コントローラとプローブホルダーという2つの主要コンポーネントを備えたモジュラー設計を特徴としています。コントローラはプローバの動作を担当し、プローブホルダーは電気信号線とプローブを保持します。コントローラは、サーボドライブ、信号プロセッサ、CPUで構成されています。サーボドライブはプローバの位置決めとプローブの動きを担当し、信号プロセッサはプローブの信号調整を処理し、CPUはプローバの動作を制御する責任があります。TEL P8XLは、さまざまな半導体デバイス特性を試験するためのさまざまなプローブを提供しています。これは、デバイスの電流、電圧、電力、または抵抗を測定するために使用することができ、さまざまな種類の容量性、誘導性、および光学プローブを備えています。また、東京エレクトロンP8-XLは、最大5つの特性を測定するために調整可能な可変プローブを備えています。TOKYO ELECTRON P-8XLには、プローブをデバイス上に素早く正確に配置できるアライメントシステムも搭載しています。このアライメントシステムは、レーザービームを使用してデバイスのエッジを検出し、デバイス上のプローブの正確な位置決めを提供します。プローバーには、カメラを使用してプローブを正確に整列させ、デバイスの自動ベクトルマッピングを実行できるようにするビジョンアライメントも装備されています。東京電子P 8 XLは、高速デバイスの試験において、最大50マイクロ秒のシングルプローブ応答時間、最大200マイクロ秒のデュアルプローブ応答時間を実現します。また、time-domain reflectometry （TDR）やfrequency-domain reflectometry （FDR）など、さまざまな種類の試験方法もサポートしています。さらに、Proberにはプログラム可能なテスト機能が搭載されており、ユーザーは独自のテストシーケンスを定義し、特定のアプリケーションに合わせてカスタマイズすることができます。TEL P-8 XLは、半導体デバイスの性能と信頼性をテストするために設計された高性能プローバです。これは、デバイス上の信号を正確に配置し、測定するためのプローブとアライメントシステムの多種多様を提供しています。さらに、シングルプローブおよびデュアルプローブの高速応答時間で高速かつ正確なテストを実行することができます。TEL P-8XLは、半導体デバイスの試験に最適な信頼性と精度の高い機器です。