中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293603768 を販売中
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ID: 293603768
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2004
Prober, 8"
OS: Gzz00-R014.08QH
CPU Type: VIP3A
Hot / Cold Gold chuck
Vacuum: ≤-50 kPa or less
Main air / Vac hose size: 6Ø
WAPP Polisher plate
Bridge
Top loader
ESD Tested
Bernoulli and pad sub chuck
Chuck air blower
Solenoid block
Control board
OCR COGNEX insight 1700 with adjustable bracket
Air pressure: 0.45 MPa - 0.7 MPa
SCSIHSD: 70-80% Increased speed
Memory: 8G / 16G SD Card
SCSI Interface
Power: 5V DC
Power supply: 200-240 V, 50-60 Hz, Single phase, 7.5 Amps
2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL proberは、半導体デバイス試験におけるプロービングおよび測定操作に使用される高度なツールです。この強力で汎用性の高いプローバーは、幅広い試験および測定タスクに対して信頼性の高い精度と再現性を提供します。TEL P8XL Proberはユニークなデュアルモードの動作を備えています。Basic Modeでは、1台のデバイスまたは基板上で一度にテストおよびプロービングを行うためにTOKYO ELECTRON P8-XLを使用します。このモードでは、試験パラメータを正確に制御し、微細なピッチと高速動作で正確に結果を測定できます。Integrated Modeでは、大容量・高スループットのTOKYO ELECTRON P8XLを設計しています。単一の基板上で複数のデバイスを最小限の時間でテストすることができます。プローバは高精度プリスキャンシステムを内蔵しており、同じ基板上に複数のデバイスを迅速かつ正確に配置することができます。プローバには、高性能メモリデバイスやロジックデバイスなどのデバイステストの完全なライブラリも装備されています。さらに、標準サポート・プログラムの組み込みライブラリを提供し、全体的な運用効率を向上させます。高度な機能に加えて、P-8XL ProberはインプロセスUSB通信の包括的な範囲だけでなく、完全なPCとPCの制御/通信機能を提供しています。それはまた実験室の装置および産業プロセスシステムの広い範囲とインターフェイスすることができます。デバイスのテストと分析のために、このツールには、正確な手動位置決めや、テストプロセスのほぼすべての時点で任意のパラメータを監視する機能など、パフォーマンス指向の多くの機能が含まれています。さらに、P 8 XL Proberは最大4つの入出力信号を同時に表示することができ、テストポイントの迅速かつ簡単なアライメントを可能にします。全体として、P8XL Proberはチップのテストと分析に理想的なツールであり、最適なテスト結果を得るための柔軟性と利便性を提供します。堅牢な機能、直感的な設計、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えたこのプローバは、あらゆる試験または測定環境で信頼性が高く、正確で効率的です。
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