中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #9198732 を販売中
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ID: 9198732
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 1999
Wafer prober, 8"
With D204 chiller
Temperature control: THERMO D204 Generator
MVME 147-023 Module
TVB0004-1/147CON
8" Gold plated chuck
KLA 740-806002-00 Vision bridge module
SMIF Loader
Power:
Voltage: 200 V - 240 V
Frequency: 50/60 Hz
Phase 1
Current: 7.5 Amps
CE Marked
Currently warehoused
1999 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8i proberは、集積回路や半導体デバイスなどの電子部品を試験するために設計された精密試験・測定装置です。幅広い試験条件下で電気特性を解析することにより、アクティブ部品とパッシブ部品の両方の性能をテストできます。これは、テスト中のコンポーネントの正確な読み取りを提供するために一緒に動作するいくつかのコンポーネントで構成されています。TEL P8I proberには、プロバーコントロールベース、プロバーヘッド、インターフェースロジック、サンプリングヘッド、精密ハンドホイールが含まれています。プローバコントロールベースにはパワーボードが内蔵されており、プローバヘッドには制御信号を送信するためのフレキシブルケーブルが内蔵されています。このベースは、プローバー機能の手動および自動制御を提供します。プローバーヘッドは、測定ヘッド、ステッピングモーター、およびテストヘッドの駆動に使用されるACサーボモータで構成されています。インターフェイスロジックは、ベースコントローラから情報を受け取り、それをプロバーヘッドの測定ヘッドのための互換性のある信号に変換し、データ収集のためにサンプリングヘッドに出力を送信します。サンプリングヘッドは、さまざまな種類のテストシステムやインターフェースに接続することで、テスト用のデータを収集するために使用されます。アンプと高精度アナログ/デジタルコンバータを内蔵し、アナログ信号をデジタルデータに変換して処理を進めます。精密ハンドホイールは、詳細な測定のための正確な配置を確保するために、テストヘッドの精密配置に使用されます。TOKYO ELECTRON P 8 I proberは、さまざまな試験条件を持つ電気部品を試験するための信頼性が高く正確な装置です。それは自動車、消費者、軍隊および産業適用のための理想的なプラットホームを提供できます。これは、簡素化された手動制御、プローバの正確な動き、および低ノイズのハードウェアを備えています。その性能はproberに含まれているグラフィカルユーザーインターフェイスによって容易に監視することができます。TOKYO ELECTRON P-8i proberは、精度と試験能力を備え、電子部品の効率的かつ正確な試験に最適です。
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