中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #9112017 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8iは、各種集積回路（IC）の電気特性を測定する高性能プローバです。高精度の誘電分光計とハイエンドのマグニチュード解析システムを備えており、抵抗、コンデンサ、ダイオード、トランジスタなどの半導体デバイスの特性を測定することができます。TEL P8Iを使用して、ICチップ上のコンポーネントのアライメントおよび位置を測定および分析することもできます。TOKYO ELECTRON P 8 Iは、最先端の誘電分光計と、4線式電気試験、レーザプロフィロメトリー、X線顕微鏡、ナノインデンテーションなど、さまざまな測定ツールで構成されています。これらのツールは、サンプル回路を作成するために必要な情報を提供することによって、さまざまな回路部品の特性を測定するために協力しています。プローバーには、コンポーネントの電気特性を正確かつ効率的に測定できる強力な制御システムも装備されています。Proberは、抵抗、インダクタンス、静電容量、および電圧などのパラメータを識別および測定するために特殊なアルゴリズムを使用します。次に、結果を読みやすい高精細画面に表示します。これにより、測定されたパラメータを分析して、さらなる評価と修正を行うことができます。Proberはまた、ユーザーがニーズに応じてテスト手順をカスタマイズできる複数のモードを備えた柔軟なテストプログラムを備えています。TEL P-8iのポータブル設計により、ラボやフィールドワークの用途に最適です。これは、ユーザーが特定のニーズに応じてproberをカスタマイズできるモジュラー設計を備えています。アルミニウム構造は温度や湿度の変化に強いため、過酷な環境での使用に適しています。プローバーには、電気ショックやその他の危険から保護する内蔵の安全機能も装備されています。TEL P 8 Iは、ICで使用される各種部品の電気特性を測定するために使用される、高度で信頼性の高いプローバです。高度な技術、強力な制御システム、柔軟な測定モードにより、集積回路のトラブルシューティングとテストに必要なツールとなります。