中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #159278 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i proberは、信頼性の高い高性能プロバーソリューションをメーカーに提供するために設計された最先端のウェーハ検査およびテストソリューションです。TEL P8Iは、先進技術を活用し、半導体ICなどの物理特性を正確かつ迅速に測定することができます。TOKYO ELECTRON P 8 Iは、シリコン等の試験材料の自動検出・スキャンが可能です。装置の完全に統合されたステージメカニクスとレーザーアライメントポイントにより、高精度と再現性を実現します。これにより、残留不規則性と再現性を最小限に抑えて複雑なテストを実施することができます。プローバには高速4軸ステージと高精度サンプリングシステムを搭載しています。これにより、IC、トランジスタ、抵抗、ダイオードなどを集中的にテストできます。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Fault-Logの生成や、評価・認定のための測定データの検証にも使用できます。TOKYO ELECTRON P-8iは、高精度な試験結果を提供する自動マルチプルテストプローブポジションなど、さまざまなテストソリューションやその他のオプションを備えています。また、150µmや200µmフラットピン、プローブグリッド、ニードルプローブなど、幅広いウェーハプローブに対応しています。これにより、ユニットの操作は、顧客の特定の要件に合わせて調整することができます。TEL P 8 Iは、機械が常に最適な状態にあることを保証するために、さまざまな安全機能と自己診断機能を備えた信頼性の高い設計です。また、リモートテストやリモート診断、サービスなど、幅広いテストおよびユーザーサポート機能を備えています。これにより、顧客がどこにいても、効率とサポートを強化できます。自動化に関しては、強力なソフトウェアコントロールツールと高度なソフトウェアアルゴリズムを備えたTOKYO ELECTRON P8Iは、あらゆるタイプのICをテストできる完璧なプロバーソリューションです。アクティブテスト、ビニング、ワーストケース分析、カスタムアルゴリズム開発などの機能が含まれています。全体として、P8Iは高度で信頼性の高いプローバーであり、完全なオートメーション機能を備えた明確な特性評価を提供します。精度、再現性、スピード、信頼性を提供するために最適化された高度なプロバーソリューションを提供します。