中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407573 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、TEL Limitedの半導体ウェーハ試験用に特別に設計されたプローバです。ウェーハフロントサイドとウェーハバックサイドの両方の属性テストに使用されます。本装置は最新のFE-SEM （Field Emission Scanning Electron Microscope）技術をベースにしており、高解像度の画像処理、画像処理速度、およびX-Yサンプル領域の大型化を実現しています。このシステムは、高精度のプローバー機能と高度な機能を備えているため、さまざまなデバイスやコンポーネントのテストに最適です。ウェーハ表面の試験時に最適な安定性と精度を提供するよう設計されています。これは、サンプルローディング機構を備えており、可変的に配置され、安全で正確なサンプルプローブを可能にします。フレームセット設計により、サンプルプローブのアタッチメントベースの実装をサポートし、迅速かつ容易なサンプルプロービングを可能にします。この機械はまた、低接触力と改善されたサンプルハンドリング速度を可能にするフリクションプレート設計を採用しています。内蔵のプログラム可能なTEL P8コントローラは、プローバのプロセスを自動化するのに役立ち、サンプルアライメントとプログラム可能な動きのガイダンスを提供します。このコントローラには、さまざまな通信インタフェースが搭載されており、他のネットワーク、テストシステム、および他の通信プロトコルへのデータ転送が可能です。また、東京エレクトロンP 8は、ウェーハテストを効率的かつ迅速に開始することができます。このツールは、最大3つのウエハ径とさまざまなサンプルツープローブ構成を使用します。また、内蔵の加熱機構と超低温技術により、高効率試験機能を提供します。完成したテスト結果は、資産の超高スキャン解像度のために、高精度です。これにより、マイクロエレクトロニクス業界の精密試験に最適です。最後に、TEL/TOKYO ELECTRON P 8は、主に産業用に設計された柔軟で堅牢なケーブルモデルを提供します。相互接続は潜在的な損傷から十分に保護されるように設計されており、モジュラーケーブルの設計は容易な維持および修理を提供します。全体として、このプローバは高性能で、操作が簡単で、信頼性の高い正確な試験結果を提供する効率的な機器です。