中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407565 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、TEL/東芝が半導体デバイスの試験用に開発した最先端のプローバです。TEL P8には、8インチウェーハマッパー、高解像度Z軸モーション、8-Axis高速ウェーハステージが装備されています。ウェーハマッパーの最大解像度は0。5 μ mピッチで、高解像度のZ軸モーション（X、 Y、 Z）は最大4 μ mの動作が可能です。8-Axis High Speed Wafer Staageは、0.05μm/Axisの位置精度と30 μ m/secのサンプル速度、および0。5 μ m/secのウェーハ処理速度を使用しています。TOKYO ELECTRON P 8には、試験中のデバイスに対してプローブヘッドの正確かつ再現可能な位置決めを可能にする自動寿命およびスペーサ補正装置も搭載しています。このシステムには、非接触位置用のタッチオフユニットと、プローブのヘッド位置を微調整するためのテスターアライメントマシンが含まれています。さらに、P-8は、ESD、汚染、振動からの保護を提供する、デバイス保護のための信頼性の高いストレスフリーツールを誇っています。また、パワフルな帯電防止アセットにより、充電減衰を効率的に制御し、測定の再現性、デバイスの安定性、試験メンテナンス性に優れています。このモデルには、充電転送用の非接触容量性渦電流センサと充電蓄積抑制用のパルス電流インジェクションも含まれています。TEL/TOKYO ELECTRON P8は、半導体製品試験に最適なオールインワンソリューションです。外観、検出、位置決め精度、保護機能、および静電気防止制御システムを組み合わせることで、半導体ウェーハおよびパッケージデバイスの製造およびテストに最適なツールです。TEL P 8は、欠陥を最小限に抑え、結果を速くし、デバイス寿命を延ばす効率的なテストを可能にします。