中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9401506 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、幅広いテクノロジーノードやプロセス材料をサポートする高度なプローバです。高速動作により、高精度な試験・プロービングサービスを提供できます。TEL P8 Proberは、運用の信頼性を高め、サイクルタイムを短縮し、信号整合性のパフォーマンスを向上させるように設計されています。TOKYO ELECTRON P 8は、誘電体とウエハレベルのプローバ、ステージモジュール、ハンドラーインターフェイスで構成されています。誘電体プローバーは、ラスタースキャナー、ダイレクトプローバー技術、高精度のマルチレベルチャックを備えています。µm µm厚い誘電層で0。1 ≤以上の精度で最大66本の3µm線とスペースをプローブすることができます。ウェハレベルのプローバは、リソグラフィーパターン、MEMS/NEMS構造、およびパワーデバイス部品の電気特性を測定するために使用できます。ステージモジュールは、ウェーハの迅速なセトリングと正確な配置を提供し、300ウェーハ/時間の高いスループットを提供します。TEL P 8はまた、PCIベースの検査装置（IBIS）と自動ウェハレベルのテストとプロービングを統合しています。漏れ電流、キャパシタンス、インダクタンス、抵抗などのパラメータを測定でき、大型基板でのインラインパラメータテストを自動化できます。また、バックサイド液晶ディスプレイ（LCD）パターニングやチップレベルの熱特性評価などの技術も取り入れています。さらに、UVマイクロスポット投影システム、高解像度光検査サブシステム、デジタルイメージングサブシステムなど、さまざまな高速光学イメージングツールを搭載しています。安全面では、防御レベルのProber Fault Detection Unitと静的制御センサーを備えた試験ステーションを備えています。また、中断のない制御装置も備えており、オペレータの注意が常に特定のテストステーションまたはデバイスに向けられるようにします。これらの高度な機能の組み合わせにより、P-8は故障解析、パラメトリックテスト、品質管理に最適なツールとなります。