中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9298903 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、主に試験・材料解析用途に使用される半導体プローバです。このプローバーはユニークで革新的なデザインで、さまざまなサンプルやプローブステーションを処理できます。8列のワークステーション構成により、複数のセンサーとプローブを同じステーションで使用できます。プローバーには、統合されたクーラーと正確なサンプル安定性を提供するクランプ機構が装備されています。プローバーには、プロービング用の4つの主要センサーがあり、それぞれがサンプル材料のさまざまな特性を測定するように設計されています。フォースセンシングに関して、システムは静的、動的、絶対的な力を測定する圧電共振器、圧電抵抗カンチレバー、およびナノゲージ力センサーを備えています。接触抵抗、接触面積、スライド力などの主要パラメータを測定するために使用できます。プローバーには、表面電位を測定する表面電位センサもあります。この機能を使用すると、接触抵抗やサンプル材料特性などの表面特性を直接接続できます。このユニットには、特定のプロービングニーズに適応するための交換可能な構成も選択できます。このマシンは、標準、手動、反転、およびリアクティブな構成を備えています。標準構成は、サンプルのバルク測定を実行するために使用されます。マニュアル構成により、手動でサンプルの配置と調整が可能になり、正確な測定結果が得られます。反転した構成により、サンプルを損傷したり測定を妨げることなく、サンプルを曲げたり、プローブに押し込んだりすることができます。反応的な構成は、表面反応や移動などのプロービングプロセスに対する物理的な応答を生成するために使用されます。TEL P8 proberには、温度制御および動的制御システムも装備されています。温度ツールを使用すると、温度、圧力、力などのサンプルパラメータに対してサンプルを調整できます。動的制御アセットは最適なプロービング速度を維持し、正確な結果を得ることができます。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、精密で信頼性の高い試験および材料分析アプリケーション向けに設計されています。センサーの選択と交換可能な構成により、正確な測定と短時間での結果を保証します。温度制御および動的制御システムはまた、優れた再現性と正確な制御を提供することにより、正確な測定を保証するのに役立ちます。