中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9275347 を販売中

「TEL/TOKYO ELECTRON P-8」は、半導体デバイスの製造試験用に設計されています。プローバーは、自動搬送システム、高速プラテン動作、正確なプローブ位置決めを利用して、迅速かつ効率的なデバイス試験を行います。プローバは、シングルサイトテストとマルチサイトテストの両方に使用でき、高精度で再現性のある電圧測定が可能です。2段階のプローブアプローチと2段階のリトラクトを備えており、迅速で便利なデバイスのプロービングを保証します。TEL P8 Proberは、広範囲の電圧測定に対応するHi/Lo電圧オートスイッチ機能を備えています。また、プローブの正確かつ効率的な取り扱いを容易にする真空ホールド機能を備えています。Proberは毎秒200回のテストサイクルを実行でき、ウェーハの手動テストと自動テストの両方に対応しています。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、プラテンの動きや試験による振動や騒音を低減するように設計されています。プローブ先端への振動や機械的ノイズの影響を低減するために設計された振動絶縁システムを搭載しています。また、TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Proberには、周囲の空気の影響を低減し、プローバーへの振動や騒音の影響を最小限に抑えるように設計された高炉を搭載しています。TEL P-8 proberにはリモートアクセス機能も搭載されており、遠くからテストプロセスを制御し監視することができます。プローバは、テストプロセスを合理化し、デバイスが正確かつ一貫してテストされるようにすることで、時間とリソースを節約するように設計されています。さらに、TEL P 8 proberを使用すると、ユーザーは将来のテスト用にプローブ設定を簡単に構成および保存できます。TEL/TOKYO ELECTRON P8 proberは、半導体デバイスのテストに最適な汎用性、信頼性、使いやすいproberです。その自動輸送システムと高速プラテンの動きは、迅速で効率的で正確なテストを保証します。その振動分離およびリモートアクセス機能により、テストプロセスが一貫して正確で効率的であることが保証されます。TOKYO ELECTRON P-8 proberは、最も要求の厳しい半導体デバイス試験要件のニーズを満たすように設計された信頼性の高いツールです。