中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9261698 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体試験用に設計されたプローバです。小型集積回路から大規模集積回路（LSI）まで、幅広いデバイスを精密に測定・評価できる高度な機能を備えた高性能機器です。このシステムは、接触試験や非接触試験など、さまざまなテストパッドや電極への適応性を提供します。TEL P8 Proberには自動プローブチェンジャーが装備されており、高いスループットを持つ生産環境に最適です。このユニットは、固定接触プローブやスプリング液浸プローブなど、さまざまなテストプローブをサポートするように構成できます。精密で自動化されたX-yプロービングステージとコントローラにより、試験中のデバイス（DUT）上にプローブを正確に配置できます。堅牢で安定した設計により、長いテスト期間でも高速、精度、再現性を提供します。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、パワフルなロギングマシンを搭載し、簡単にアクセスできるテストデータと分析機能を提供します。現在の監視、オープン/ショートテスト、ロジックアナライザ機能などの高度なフォルト絶縁技術をサポートしています。このツールは、静電容量、インダクタンス、抵抗などのさまざまなデバイス特性を測定するための時間領域反射測定（TDR）およびステップ周波数テストも提供します。TEL P-8 proberは、さまざまなスクリプティングツールを含む、さまざまな自動化機能も提供しています。LabWizやTektronix TestViewなど、さまざまな電子テストシステムとの互換性があります。これにより、統合が容易になり、プロトタイピングと工業生産アプリケーションの両方に柔軟性が向上します。P8 proberは汎用性が高く、強力で信頼性の高い資産であり、さまざまな半導体試験タスクに適しています。自動化されたX-yプロービングステージ、堅牢な設計、高度なフォルト絶縁機能により、最も複雑なデバイスでも正確な測定と評価が可能です。自動化機能と複数のテストシステムとの互換性により、本番環境とプロトタイピング環境の両方にとって貴重なツールとなります。