中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9238931 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体製造業界で広く使用されているプローバー機器です。電気試験や接触抵抗などの半導体デバイスのパラメータを正確かつ信頼性の高い測定を提供するように設計されています。具体的には、高周波（HF）電気試験を含むウェハレベルのデバイス特性評価のためのウェハレベル接触プローブ測定に使用できます。また、自動接触プローブシステムは、研磨および金属化試験を含む半導体ウェーハの電気および接触抵抗の測定にも適用できます。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、安定した電気環境と高度な機能を備えた幅広いデバイス測定を提供するように設計されています。これは、シリコンや複合材料を含む異なるウエハータイプに対応するために複数のプローバーステージを備えています。その接触ステージは、信頼性の高い接触形成とプラズマ誘発蒸着を提供するために最適化されていますが、プローブ機構は、再現可能な接触先端位置決めを保証します。さらに、その十分に設計されたプローブホルダーソリューションは、特定の半導体デバイスのユニークなニーズを満たすために、幅広いテストスタンド構成を提供します。Proberシステムには、自動OCRスキャンや画像キャプチャツールなど、さまざまなツール分析が搭載されており、ユーザーはテスト中にデバイスをすばやく検査することができます。さらに、このユニットはインタラクティブなグラフィカルユーザーインターフェイスを提供し、ユーザーがインタラクティブにテストシナリオを視覚化および変更できるようにします。さらに、自動ウェーハ交換により、TELホストとプローバ間で直接ウェーハを交換し、高速なテスト/トリム/パック操作が可能です。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 proberには、高度なレーザーベースの測定機能も搭載しています。デバイス固有のテストシナリオと温度管理のために複数のチャンネルオーブンを変更でき、高度なパラメトリックテストスイートにより、パラメトリックと機能の両方の影響を同時にキャプチャできます。さらに、プローブカードマシンは電磁干渉から保護するように設計されており、複数の接点を並列に作成してテストを高速化し、正確な測定を行うことができます。TEL/TOKYO ELECTRON P8は、幅広い半導体製造および試験運用に適した信頼性と機能を備えたプローバツールです。高度なツールとテクノロジーにより、ユーザーは正確で一貫した結果を得ることができます。また、高度な温度、プローブ、およびレーザーベースのテストにより、パラメトリックと機能の両方の影響を同時にキャプチャすることができます。