中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9226318 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体試験に使用されるプローバです。デジタルとアナログの両方のICプロービングおよびデバイス障害解析用に設計されており、高速、高速、および低電圧試験が可能です。ディスクリート部品から小規模システムまで、幅広いICアプリケーションをプローブできます。TEL P8は高度なタスクコントロールとユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、幅広い温度範囲で正確で繰り返し可能なプロービングを提供します。また、内蔵のウェハマッピングツールを備えており、テストジョブの自動テストレイアウトとアセンブリを可能にします。さらに、複数のプラットフォーム検出および解析機能を内蔵しており、故障したICを効果的に自動的に識別して特定し、プロービング速度と精度を大幅に向上させます。TOKYO ELECTRON P 8は、高速・高精度のプローブカードを搭載し、各種ICでの複数点接触試験を同時に行えます。大きな液晶タッチパネルを搭載し、ユーザーの環境に合わせて設計されており、高精度なプロービングを保証する自動アライメントシステムを備えています。また、感度の高いフォースセンシングシステムを搭載し、-100V〜+100Vの電圧試験が可能です。P 8は容量値を2fFから1pFまで測定することができ、周波数およびノイズ測定も可能です。TOKYO ELECTRON P-8は人間工学に基づいた設計で、IC上の凹凸や凹凸をプローブすることができます。また、調整可能なプロービング力を備えているため、作業負荷を低減し、精度を向上させます。また、TEL/TOKYO ELECTRON P 8は、自動テストデータ取得、実行、システム専用テストソフトウェアが可能です。組み込みソフトウェアはプログラミングが可能であり、プロセスをより効率的で正確にするマニュアルのセットアップを必要としません。最後に、P-8は、ライブラリ作成、データ転送、フルカラーのタッチパネルを備えた7 インチLCDディスプレイなど、幅広い便利な機能を備えています。結論として、TEL/TOKYO ELECTRON P8は半導体試験に使用される強力なプローバです。高精度でユーザーフレンドリーで、内蔵のウェハマッピングツール、複数のプラットフォーム検出および解析機能、および故障したICを効率的に識別して特定するための調整可能なプロービング力など、幅広い機能を備えています。