中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9068713 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体ウェハテストに使用されるプローバーおよびコンパクトなベンチトップ機器です。TEL Microprobeシリーズの一部であり、信頼性が高く費用対効果の高いプロービングソリューションとして設計されています。TEL P8はモジュラープラットフォームであり、さまざまなアプリケーションに適応可能です。ウェーハの処理時間を短縮し、統合された光学系または非接触システムを介してウェーハに自動的にアライメントし、コンタクトプローブを素早くゼロ編集することで効率を最大限に高めるように設計されています。さまざまな高解像度カメラをサポートし、1mm〜10mmのプローブに対応できます。TOKYO ELECTRON P 8は0。25umまで精度が高く、400kHzまでの試験速度が可能で、低高度ウエハに最適です。TEL/TOKYO ELECTRON P8は、静電気放電（ESD）防止に特化したプローブ冷却ユニットを内蔵しています。それは一定した冷却および暖房を制御する特別な部屋、部屋の塵の干渉を最小にする絶対フィルターおよび整列レーザー機械を含んでいます。TEL P 8は、繰り返し過渡ESDイベントのIEC 61000-4-2規格に準拠しています。P 8には2つの別々のテストジェネレータも含まれており、2つのデバイスを同時にテストすることができます。これにより、テスト時間を最小限に抑え、全体的なパフォーマンスを大幅に向上させます。TEL P-8にはマルチゾーン顕微鏡を搭載し、チップのクローズアップを可能にしました。これにより、デバイスの調査が簡単になり、即座にフィードバックが得られます。P8には、精度を確保し、パフォーマンスを向上させるための他のいくつかの機能もあります。テストデータをリアルタイムに記録・保存できるため、プロセスのパフォーマンスを容易に追跡・測定できます。さらに、P-8は、数回クリックするだけで複雑なテストパターンを簡単に作成できるソフトウェアプラットフォームと統合されています。全体として、TEL/TOKYO ELECTRON P 8は、正確なテスト、効率的なプロービング、信頼性の高いデータ管理を提供できる高度で汎用性の高いプロバーツールです。半導体テストに最適なソリューションであり、小型および大型のウェハサイズの両方に対応でき、高度な機能によりオンデマンドのテストとデータロギングが可能です。TOKYO ELECTRON P8は、あらゆる半導体試験アプリケーションに最適なプローバです。