中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9031505 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、一般的に半導体デバイスの試験に使用される高精度プローバです。電子チップ上の小さなパターンを測定し、品質基準を満たしていることを確認するために使用されます。プログラマブルな基板ステージとマルチステージオプションにより、自動化と柔軟性を提供します。どちらもシングルステージシステムまたはマルチステージシステムでの高スループットテストを可能にします。また、TEL P8にはサーマルチャックが内蔵されており、プローバーの温度範囲外でテストが完了した場合でも、測定精度が向上します。このサーマルチャックは、サブミクロンの測定精度に必要な熱安定性を提供するように設計されています。TOKYO ELECTRON P 8には、テストを容易にするためのさまざまなツールがあります。プログラマブルテストシステム（PTS）を使用して、シンプルで効率的な操作を可能にします。PTSは他のシステムよりも迅速なプログラムカスタマイズを可能にし、テスト時間を大幅に短縮します。TEL/TOKYO ELECTRON P8には、ニードルプローブカードなどの特殊なオプションも用意されています。高度なイメージングオプションは、製品品質をさらに向上させるために分析することができるデバイスの高精細検査を可能にします。TOKYO ELECTRON P-8の中心には高精度のステージがあります。このステージは、他のプローバーよりも優れた精度と再現性を提供し、200mmから300mmまでのサンプルサイズに対応できます。このユニットは、自動チップセンタリングと幅広いツーリングを備えており、プローブとデバイス間の正確な接触を保証します。幅広い機能を備えたP8は、半導体デバイスのテストに最適な汎用性と強力なプローバです。その特徴は、試験結果に関しては、高精度、再現性、および信頼性を保証します。P-8は装置のテストおよび分析のための貴重な用具で、優秀な結果および改善された製品品質を提供します。