中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293827364 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体業界の多国籍企業であるTELが開発したプローバです。このプローバは、半導体ウェーハおよびデバイスの評価のための電気試験施設として機能します。TEL P8は、20年以上にわたり、電子機器やインタフェースの耐久性と信頼性の高い試験に使用されてきました。TOKYO ELECTRON P 8 proberには、さまざまなサンプルタイプの手動プロービングと自動プロービングの両方をサポートする頑丈でプログラム可能なモジュール設計が含まれています。サンプル表面の曲率範囲をサポートするデュアル軸パレットアクチュエータを搭載し、200mmの高さ調整機能により幅広いウエハサイズを提供します。これにより、すべての半導体デバイスに高密度相互接続配線を適用できます。プローバーには、高度なマイクロポジショニング装置と高速スキャンヘッドが装備されており、信頼性の高いデータ収集と正確なプロービングを保証します。高いプロービング速度、最大15kHzのサンプリング能力、長期安定性を備えたTOKYO ELECTRON P-8は、優れた精度を保証します。自動化されたproberは9つの信号ピンを提供し、独立したピンの感受性は別に制御することができます。プローバの統合された信号アンプと個別のコンフィギュレーションカードにより、異なる信号タイプを使用する場合に柔軟性が得られます。P-8には、電磁ノイズによるデバイスの損傷を防ぐための干渉防止技術など、多くの安全機能が組み込まれています。また、過電圧保護と、故障時に電源を切断するための内蔵パワーダウンシステムも含まれています。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 proberは、プローバー操作に対する堅牢で直感的なアプローチを提供します。ローカルとリモートの両方の操作をサポートし、生成されたデータをネットワーク経由で共有できます。フロントエンドのオペレーティングマシンは容易に適応し変更できるため、必要に応じて回路図をすばやく分析および調整できます。TOKYO ELECTRON P8 Proberは、さまざまな半導体デバイスやインターフェースのプローバテストにおいて、信頼性と効率性に優れたソリューションです。その堅牢で柔軟な設計には、高度な高速スキャンヘッドと信頼性の高い信号アンプが装備されており、優れた精度とデータ品質を保証します。また、さまざまな安全機能と使いやすいフロントエンド操作ツールが組み込まれているため、品質保証および試験アプリケーションにとって魅力的なオプションです。