中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809907 を販売中
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ID: 293809907
ヴィンテージ: 2000
Prober
VIP3
Semi-Automatic Probe Card Change (SACC)
Wide-Area Probe Polish (WAPP)
Golden chunk
Optical Character Recognition (OCR)
2000 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、非常に小さな電子部品を取り扱い、測定するプローバー装置です。静電気と誘電の原理を組み合わせて設計されており、電子部品を処理するための高精度で低ノイズの環境を作り出しています。TEL P8は、-30Vから30Vまでの可変電圧範囲を持つ充放電装置と、調整可能な電流制限を備えた容量性電源を組み合わせた独自の設計により、小型サンプルの精密な測定と加工を実現しています。このマシンは幅広いアプリケーションを持ち、ウェーハプロービング、MEMS試験、ビームリード試験、デバイス試験、ナノテクノロジー試験などのさまざまなタスクを実行するために使用できます。TOKYO ELECTRON P 8には、サンプルの印加電圧と周波数を正確に測定・監視するための高速デジタルボルトメータ(DVM)と高速デジタル周波数カウンタ(DFC)が搭載されています。さらに、このマシンには、P-8に接続された他のデバイスとのリモートアクセスと通信を可能にする高度な通信Modbus/TCPとUSBも装備されています。TEL P-8は完全誘電シールドトンネルと低振動設計を備えており、部品の安全な取り扱いと正確な測定が可能です。P 8にはバイブロ音響補償(VCA)システムも含まれており、ノイズや振動が測定に影響するのを防ぐのに役立ちます。また、誘電シールドトンネルキャパシティブクランプも備えており、検出器へのサンプルの安全なクランプを保証します。P8には、デリケートな電子部品の損傷リスクを低減するための自動故障検出ユニットとロープロファイルシールド環境(LPSE)も含まれています。自動故障検出機は、地上接点と測定点の間の開放回路または短絡回路を検出できます。さらに、低プロファイルのシールド環境(LPSE)は、精度に影響を与える可能性のあるEMI干渉のリスクを低減するように設計されています。このマシンには、ウェーハトラッキング、データ収集および分析、プロファイル分類、および広範なロギングなどの高度なソフトウェアも装備されています。TOKYO ELECTRON P8のソフトウェアは、効率的かつ正確なデータ収集と分析を提供し、すべての保存されたデータに安全にアクセスできるように設計されています。TOKYO ELECTRON P-8は、最高の精度、信頼性、安全性を目指して設計されているため、高度なナノテクノロジーおよびMEMS試験に最適です。半導体、データストレージ、その他の業界の電子部品の試験および加工にも最適です。
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