中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809521 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Proberは、ハイスピードプロービングレートと超低サイクルテスト用に設計された高性能プローバです。-高度なプロセス分析。-高精度の表面測定およびさまざまな装置サイズとの両立性。TEL P8 Proberは、製造工程や表面検査精度の要求が高まる中、開発されています。幅広いウエハサイズに対応し、25mmx25mmまでのチップサイズに対応できる高速スキャンプローバです。電荷結合デバイス（CCD）イメージセンサー2台とマイク4台を備え、表面の地形や欠陥を測定し、加速/減速波形を解析してプロセス分析を行います。TOKYO ELECTRON P 8 Proberは、タクトタイムコントロールシステムと統合された制御装置を使用し、高速試験と正確な表面測定を可能にします。一体型コントロールユニットは5軸で構成されており、テストプロセスでステップフォワード/バック、X軸/Y軸/Z軸ムーブメントが可能です。これにより、ウェハの正確な位置決めが可能となり、サイクルタイムを最小限に抑えた高精度の表面測定と解析が可能になります。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Proberは、2台のCCDカメラを使用して高速かつ正確に画像を取得する、徹底的にテストされたビジョンマシンを搭載しています。同時に、光が放出されて物体に伝わり、画像が得られ、反射した光がカメラに戻り、画像が形成されます。このビジョンツールは、ピクセル、ノイズ、歪み、およびその他のパラメータの合計数を考慮して、表面測定結果を正確に取得します。さらに、P-8 Proberは4つのマイクを備えており、音響データを分析して、特定のウェーハの広い帯域周波数を取得します。3軸の周波数解析が可能で、表面の距離や形状を正確に測定できます。4つのマイクロホンはオープンソースソフトウェアを介してデータを通信し、複数のサンプルを同時にテストして平均的な仕上がりを得ることができます。TEL P 8 Proberは低温プロセスにも対応し、静電チャックとコールドチャックを備えており、正確な実験が可能です。コールドチャックは-70〜+25°Cの範囲で動作するため、最適な低温プロセス分析が可能です。全体的に、TEL/TOKYO ELECTRON P8 Proberは、優れた速度と精度を提供する高性能プローバーです。ウエハサイズ0mm〜25mmまでの各種サンプルの解析に適しており、2台のCCDカメラと4台のマイクを使用して、正確な表面測定とプロセス分析を行います。さらに、TEL P-8 Proberには、タクトタイムコントロールアセットや静電気式/コールドチャックなど、さまざまなプロセスや温度に対応する高度な機能が搭載されています。