中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809519 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体ウェーハの試験・評価を容易にするために設計された先進的なプローバです。TEL P8は、ウェーハ表面の様々なパラメータを測定できる多機能プラットフォームです。このプローバは、物理的特性やパラメータに加えて、半導体デバイスの静電容量などの電気特性を測定することができます。TOKYO ELECTRON P 8の設計・技術により、ウエハーパラメータを正確に測定・分析することが可能となり、開発・生産の双方にとって貴重なツールとなります。フルモジュラー設計により、P8は幅広いプローブとテストヘッドを使用することができます。これには、静電容量、抵抗、誘電率、電圧試験および光強度を測定するためのテストヘッドが含まれます。P 8には高温チャックのオプションもあり、高温での測定にも使用できます。その柔軟性と信頼性に加えて、TEL/TOKYO ELECTRON P8には、高度なソフトウェアとオプションアクセサリーも装備されています。そのソフトウェアは、測定の精度と完全性を決定するための分析を容易にするように設計されています。ソフトウェアは、データベースサポート、自動データ取得と分析、レポート生成、およびインタラクティブなプログラミングと制御を提供しています。総統合標準制御（TISC）により、複数のテストヘッドを管理し、測定シーケンスを自動化し、複数のジョブを処理できます。TEL/TOKYO ELECTRON P 8には、様々な用途に対応できるオプションアクセサリーが付属しています。これには遠隔のサーマルチャンバーとウェーハハンドリングアームが含まれており、どちらも高温でのウェーハの正確な測定に不可欠です。また、サーフェススキャンププローブやオプトエレクトロニクス機器など、さまざまなツールを使用できます。さらに、マイクロ波プローブ、非接触計測器、フォースフローメータなど、さまざまなアクセサリでカスタマイズすることができます。P-8 proberは、半導体ウェーハをテストするための信頼性と汎用性の高いソリューションです。高度なソフトウェアと幅広いプローブとテストヘッドにより、ウェーハパラメータを測定し、結果を分析するための堅牢なソリューションを提供します。さらに、その柔軟性とオプションのアクセサリーの範囲は、それが様々なアプリケーションのためにカスタマイズすることができます。