中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809515 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体ウェーハやデバイスの電気特性を測定するプローバです。自動ウェハマッピング機能と包括的な操作機能を備えています。パワフルな装置は、今日の最新の集積回路（IC）製造プロセスにおける精密測定と安定した動作のために設計されています。TEL P8は、ハイエンドの機能と先進技術を取り入れた、TEL prober製品ファミリーの最新プローバです。高電圧および/または低電流の測定が可能なソース測定ユニット（SMU）などの優れた電気測定を提供します。自動ウェハマッピング機能により、DRAM、 SRAM、 ロジックRAMアプリケーションなどの微細構造のテストに最適です。これは、READ関数やWRITE関数などの高度なメモリおよびロジックプロセス、ならびに大規模な配信ネットワークのテストに最適です。この高度なプローバは、最大0.1mAアンプ、最大10アンプの広いダイナミックレンジを測定することができます。TOKYO ELECTRON P 8の設計はモジュラー構造に基づいており、汎用性とパワフルなシステムとなっています。TEL/TOKYO ELECTRON P 8のベースモジュールは、ステージとウェーハカセットアセンブリを組み合わせることで、ウェーハマッピングとテストサイトの正確な配置を実現する先進的なウェーハハンドリングユニットです。プローバーのバックプレーンには、リモートプログラミングとデータダウンロードを容易にするVHFラジオモジュールが装備されています。このマシンにはユーザーフレンドリーなグラフィックインターフェイスがあり、テストセットアップが表示され、わかりやすいグラフィカルフォーマットが得られます。さらに、このツールは、シンプルで直感的なバッチモード操作だけでなく、さまざまなテストパターンを提供しています。また、P8には高速データ収集アセットがあり、リアルタイムのテスト結果表示と高速再テスト機能を可能にします。このモデルは、高周波試験に適した最大50Ms/sのデータ取得速度を備えています。TOKYO ELECTRON P8は、200mmから300mmまでのさまざまなウエハサイズに対応しています。さらに、ギャップ制御専用の機能を備えており、正確な動的テストプログラムを可能にします。TOKYO ELECTRON P-8は、最新のIC製造プロセスにおいて、精密な電気計測と安定した動作を可能にする最先端のプローバです。高度なウェハマッピング機能、高速データ取得、広いダイナミックレンジ、さまざまなウェハサイズとの互換性を提供します。TEL P-8には直感的なユーザーインターフェースがあり、ユーザーフレンドリーなプログラミングとデータ表示が可能です。この装置は、高周波テストだけでなく、高度なメモリとロジックプロセスの両方に最適です。