中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293775073 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Proberは、深いプロービングと配線技術により、包装中の電気的欠陥を診断するための電気プロービングツールです。さまざまなタイプのプローブを搭載し、複数の相互接続と信号パラメータを1つのパスでテストすることができ、トレイ・トゥ・トレイで動作し、ユーザーはエラーを迅速に分析して応答することができます。TEL P8 Proberシステムは、半導体グレードのプロービングチップで構成されるプローブヘッドを使用し、接触汚染を最小限に抑えます。プローブはフレックスボードを使用して接続され、さらに6方向接触構造が追加され、耐久性と精度が向上します。フレキシブルなプロセスにより、半導体プロセスに基づいて変更しやすい配線設定が可能です。さらに、特別な配線ユニットを使用することで、デバイスの電気特性に影響を与えるウェーハの圧力を低減することができます。プローバーには、テストパターンやフォースコントロールなど、さまざまなパラメータが装備されています。これらのパラメータは、プロセスの設計に合わせて調整できます。また、ディープレベルのプロービングサービスも強化されており、欠陥レベルの最小値を検出することができます。この機能により、手動プロービング方法が不要になり、時間とプロセスコストが削減されます。さらに、Proberは特定の要素を正確に検出するために視覚認識アルゴリズムとカメラを組み込み、欠陥と接触配置の信頼性の高い決定を可能にします。このツールは、小型で柔軟なフットプリントで設計されており、あらゆる半導体パッケージ環境に簡単に実装できます。さらに、人間工学に基づいた設計により、ユーザーはプローバーを安全かつ快適に操作でき、緊張を最小限に抑え、生産性の高いワークスペースを維持できます。TOKYO ELECTRON P 8 Prober from TELは、電気的欠陥を探知・検出するための効率的で信頼性の高いツールです。柔軟なプロセスと使いやすさにより、さまざまな半導体包装に適合し、正確で費用対効果の高いプロービングおよび検出方法を実現します。