中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293775072 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体の電気特性を測定するプローバです。この装置は、出力特性、入力特性、スレッショルド電圧など、いくつかの異なる電気特性を効率的に測定することができます。TEL P8は、高精度で高感度なプロービングヘッドを採用し、ノイズレベルが極めて低いため、正確で信頼性の高いデータを得ることができます。TOKYO ELECTRON P 8は、フィードバック制御の自動化、内部データ記録などの総合的なデータ処理機能を備えた、使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスを備えた高度な計測機器コントローラを備えています。TOKYO ELECTRON P8には、電子機器の試験に最適な温度を維持する温度制御ユニットが搭載されています。この温度制御機能は、温度変動に対してゲートを形成することにより、一定の電気特性を確保するために使用されます。TOKYO ELECTRON P-8には、試験中の装置と接触した圧力を正確に測定するための圧力フィードバックシステムもあります。これにより、必要な測定現場に安定した電気的接触が得られ、正確な結果が得られます。TEL/TOKYO ELECTRON P8は高速スイッチングアングルユニットを採用し、プロービング角度を素早く変化させ、狭い領域のデバイスを測定します。この機械は試験中に一定の圧力を維持するように設計されており、半導体測定では特に重要です。また、プローブとテスト中のデバイスの間に保護層を提供します。これは、安定した環境を維持し、デバイスとプローバ間の電気的干渉を防ぐのに役立ちます。TEL/TOKYO ELECTRON P 8の高精度スキャンツールは、半導体デバイスの電気特性を正確に測定します。この資産は、幅広い半導体デバイスのサイズと互換性があり、高密度デバイスの迅速な測定を提供します。P 8のソフトウェアは、自動チューニングや統計解析などのさまざまな機能も提供しています。これらの機能により、測定データを簡単に処理できます。TEL P 8 proberは、半導体の電気特性を効率的かつ正確に測定する先進モデルです。その精度と安定性は、温度制御ユニット、圧力フィードバック装置、高速スイッチング角度システムによって大幅に改善されます。幅広い半導体デバイスのサイズに適しており、データ処理のための高度な機能を幅広く提供しています。