中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293773728 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、マイクロチップ試験およびデバイス特性評価用に設計された先進的なプローバです。このプローバは、高精度の反射ミラー装置を備えており、デバイスを1umまで正確に測定できます。自動化されたプローブシステムで、0。5umまでの正確な自動アライメントと、多目的な配線パターンモジュールを備えています。また、正確なテキストアライメントを実現するための革新的なマイクロアジャストユニットと、正確で再現性の高い試験結果を保証する自動校正機を備えています。このプローバは、高速スキャン機能と再現性に重点を置いて設計されています。それは小さいナノスケールのテスト区域に正確に焦点を合わせるために高度のビーム操縦技術を利用します。さらに、このツールには、スキャン速度と精度を微調整するための高度なアルゴリズムとツールが装備されています。これにより、ユーザーは最小限のエラーで信頼性の高いテスト結果を得ることができます。プローバは、低ノイズアンプ、高感度レシーバ、および高度な相互相関モジュールを備えています。また、調整可能な周波数ミキサーを備えており、帯域幅とノイズを微調整して信号をよりよく分析することができます。このデバイスはまた、高速スキャンでも、正確で反復可能な結果を得るためのマルチレベルの平坦度補正アセットを備えています。TEL P8はコンパクトで軽量で操作も簡単です。それは信頼できるテスト性能を提供する非常に効率的な計算装置によって動力を与えられます。Proberには使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスが装備されており、必要に応じてパラメータの調整、データの分析、トラブルシューティングを簡単に行うことができます。TOKYO ELECTRON P 8は、サブミクロンサイズのデバイスを正確に測定し、正確なデバイス特性評価を行うように設計されています。その汎用性と信頼性により、半導体試験のニーズに最適なソリューションです。その小型、低い運用コストおよびユーザーフレンドリーな操作はそれをテストアプリケーションの広い範囲のための完全な選択にします。