中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293751088 を販売中
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ID: 293751088
ウェーハサイズ: 4"-8"
ヴィンテージ: 1996
Prober, 4"-8"
Top loader
D204 Gold chuck without chiller
Head plate, 8"
KLA OCR
Polish pad: 50 mm
GPIB
RS232
X, Y, Z Probing accuracy: ±2.0 µm
Stage technology: Ball screw
Chuck temperature: 180°
WEC Direct dock interface
Low leakage probe cards
Consulting services
Clean and dry air supply:
Flow amount: 18 L/min
Pressure: 400 kPa to 700 kPa / 60 to 100 psi
Connection: 1/4"
Vacuum:
Pressure: -400 mm Hg
Flow amount: 15 L/min
Connection: 1/4"
Input power:
Single phase: 120 VAC, 30 A (Wired for a 30 A Single phase cord-cap)
2 Phase: 220 VAC, 15 A
Operating system: VME
1996 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、さまざまな半導体デバイスのテストに使用される先進的なプローバです。それは多数の複雑な適用のための精密で、正確なテストを提供するように設計されている大判ウェーハのproberです。TEL P8はマルチステーションプローバで、複数のデバイスを同時にテストできます。シングルサイトパッドと大規模なテストの両方と完全に互換性があるその種の唯一のプローバです。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、最新のエンジニアリング技術とユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを組み合わせています。そのデザインは、手動で設定を調整する必要なく、確実に正確な結果を提供します。組み込み機能により、熱制御、振動制御、空気流量制御を利用して、最も正確で信頼性の高いテストデータを得ることができます。トランジスタから集積回路まで、真空プロービングや片持ち接触プロービングなど、さまざまなプロービング技術を活用したデバイスの試験が可能です。TEL/TOKYO ELECTRON P 8は、堅牢な設計により、幅広い温度・湿度条件での動作が可能です。このプローバは、テストプロセス中に高いレベルの安定性を提供し、各デバイスからの信頼性の高い結果をテストします。また、プローバを操作する際の電気的危険からオペレータを保護するための安全システムも内蔵されています。P-8はまた、構成ミスを検出し、分離するための高度な診断ツールを提供しており、より迅速な診断と修復を可能にします。TEL P-8は、光学、レーザー、超音波検査の組み合わせを利用することにより、あらゆるデバイスが最高の業界標準に従ってテストされ、検証されることを保証します。高度な精度と制御機能により、P8は最高品質の結果を保証しながら、コストとサイクルタイムを最小限に抑えることができます。
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