中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742041 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体デバイスの電気特性を測定するプローバです。ウェハレベルでの半導体デバイスの高精度電気測定を可能にする半導体試験装置です。TEL P8 Proberは、ウェーハプローバ用途のニーズの拡大に対応するため、高精度でコンパクトなフットプリントで設計されており、ウェーハプローブの精度、歩留まり、スループットの向上を実現しています。それは鉛の接触抵抗、抵抗、電力消費およびある多くのような異なった電気変数を測定できます。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、接触変位と抵抗を同時に測定するベクトルレススキャン技術で動作します。システムはASICによってテストされ、証明され、プローブカード、頭部、チャックおよびソフトウェアを含んでいる完全な部品として供給されます。プローブカードは、テスト中のウェーハにプローブ針を接触させるように設計されています。プローブニードルは、高い再現性と広範囲の抵抗を備えた大きな点までの1点の抵抗を測定するために正確に調整することができます。プローブカードには冷却機構が搭載されており、拡張負荷時に高精度なプロービングが可能です。ヘッドはバックドライブアクチュエータ制御ユニットを使用しており、プローブの挿入と接触の高い再現性を実現しています。チャックは真空機を使用して、プロービング中にウェーハの安全なグリップを提供します。また、ウェーハ転送時の破損に対する堅牢な保護レベルを提供します。TEL/TOKYO ELECTRON P8 proberのソフトウェアは、使いやすいテスト環境を提供するように設計されています。ウェーハテストを成功させるために不可欠なデータ取得、分析、およびウェーハイメージングのためのツールが含まれています。このソフトウェアは、オペレータがテストパラメータをニーズに合わせてカスタマイズするのに役立ち、セットアップとプロセスオートメーションも提供します。P 8 proberによって生成されたデータは、さまざまな形式でエクスポートおよびインポートすることができ、効率的なデータ転送と分析が容易になります。TOKYO ELECTRON P8 Proberは、半導体部品に信頼性の高い正確な試験ツールを提供します。最小限の人間の介入で効率的なテストを可能にする高度な機能を備えています。このアセットは、高精度のフットプリントとユーザーフレンドリーなソフトウェアプラットフォームを組み合わせており、ウェハレベルのテストと分析に最適なソリューションです。