中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293710512 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Proberは、半導体デバイスの電気特性を測定する高精度・大容量試験ツールです。TEL P8 Proberは、さまざまな半導体材料の正確かつ迅速な試験を可能にする、幅広い動作、プローブカードの適応性、およびマシンビジョン機能を備えています。TOKYO ELECTRON P 8 Proberは、試験中に正確なX-Y角度の位置決めとウェーハの追従を提供する独自のウェーハインデクサ機構を備えています。この機構により、プローブカードの正確な配置と位置決めが容易になり、正確な測定が可能になります。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Proberは、市販の任意のプローブカードで使用でき、追加の輸送機構は不要です。TEL/TOKYO ELECTRON P8 Proberは高解像度プロービングアプリケーションにも使用できます。P-8 Proberは、精密なモーションコントロールシステムにより、小型サンプルデバイスと大型ウェハレベルのデバイスの両方を高精度で試験することができます。TOKYO ELECTRON P-8 Proberは、優れたモーションコントロール機能に加え、強力なマシンビジョン機能も備えています。内蔵のビジョンシステムにより、プローブを試験装置のパッドに迅速かつ正確にアライメントすることができ、プローブカードおよび/または試験装置の電気接続の品質を確認するためにも使用できます。TEL P-8 Proberはまた、プロービングツールとパラメータの広い範囲を提供し、プロービングと特性評価の高度なレベルを可能にします。大規模なテストパラメータライブラリを使用して、最大8,000の個別のテストポイントを実行でき、精度と再現性により、一貫した信頼性の高い結果を保証します。全体的に、TEL P 8 Proberは、半導体材料の正確かつ迅速なテストが可能な高度で高性能なテストツールです。P 8 Proberは、幅広い動作、プローブカードの適応性、マシンビジョン機能、高度なプロービングツールを備えており、正確な測定と高解像度プロービングアプリケーションに最適です。