中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293667431 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体ウェーハの自動解析・試験用に設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）プローバです。TEL P8は、最新の半導体製造プロセスの要求に応えるために開発されました。最先端のSEMの機能と、生産可能なウェーハプローバの利便性を組み合わせた革新的なプラットフォームです。TOKYO ELECTRON P 8は、ハイエンド分析と生産試験の両方のための高度な機能のフルレンジを提供します。特許取得済みのデュアルビームSEM、独自の10段モータ駆動、大型サンプルチャンバー、自動ポジショナーを備えており、サンプル分析を高速化します。TEL P 8には直感的なGUIインターフェースがあり、インストゥルメントのセットアップと操作が簡単に行えます。TEL/TOKYO ELECTRON P8は、多種多様な表面解析（SA）および電気特性評価（EC）試験が可能で、デバイス特性を迅速に把握できます。デュアルビームSEMにより、視覚イメージングと電気試験を同時に行うことができ、ICデバイスの微細構造を迅速に評価することができます。10段モータ駆動により、ウェハハンドリングとステッピングモータ制御の自動化が可能です。これにより、高いスループットレートで大きなサンプルエリアを正確にスキャンできます。P8は、高度な分析および生産指向のアプリケーションに適しています。それは非常に多目的で、カスタマイズされたテスト条件に容易に合わせることができます。また、高いスループット率とサンプルサイズを備えており、半導体デバイスの故障解析だけでなく、生産試験にも最適です。この強力なSEMプローバは、半導体デバイスの物理的および電気的特性を評価するために不可欠なツールです。洗練された機能性、自動化、簡単な導入を兼ね備えているため、デバイスの評価と本番テストに最適です。