中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293661239 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 proberは、電気・補助部品を迅速かつ正確に特性評価するために設計された精密試験・測定システムです。TEL P8は、テストと測定のための汎用性の高いツールセットにより、比類のないレベルの精度と精度を提供します。TOKYO ELECTRON P 8 Proberは、精密なモーションコントロールのための専用プローバーボディと補助アームを備えています。二次弁によるデュアルステージ加圧を採用し、幅広い条件でパラメータの均一性と再現性を確保し、優れた性能と信頼性を実現しています。高度なチューニング技術により、プローバは高精度、再現性、柔軟性を必要とする困難なアプリケーションで使用できます。TOKYO ELECTRON P-8は、洗練されたリアルタイムデジタル制御により、自動化された手動操作を実現します。ProberのMicro-Probe-Controller （MPC）には、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを提供するマルチタッチ4。3インチタッチスクリーンが装備されています。MPCはさらに強力で論理的に組織化された制御プロセッサを搭載し、データ転送用のUSBホストインターフェイスを備えており、精密な試験および測定操作のためのさまざまなユニークなモーションテクノロジーを提供します。P 8は独自の技術を使用して、位置制御装置とMTP （Multi-Step Test and Positioning）技術を含む反復可能なユーザー設定を合理化します。MTP技術は、さまざまなパラメータや設定に対応するように設定できる複数のカスタマイズされたモーションシーケンスを可能にします。P-8は洗練された高精度の部品の範囲を組み込みます。これらには、200°Cまでの信頼性の高い試験のための高度な熱管理技術を備えた温度検出およびチッププロービング用の堅牢で温度および耐振動性の測定ヘッドが含まれます。プローバーには、コンタクトフォースセンサー、スプリングニードルプレス、高精度で高速なオートセットリングのための高度な光学高さセンサー、移動と位置決めのための柔軟なチップ、治具、治具など、幅広いアクセサリーが組み込まれています。また、TEL/TOKYO ELECTRON P8は、プローバーボディや補助アームの一部ではない光学顕微鏡など、さまざまな外部デバイスを制御することができます。これらの外部デバイスは、専用のソフトウェアインターフェイスを介して制御されます。この機能は無制限の柔軟性を提供し、テストおよび測定操作の生産性を高めます。全体として、TEL/TOKYO ELECTRON P 8は、パラメータが急速に変化する小型部品の試験に最適なソリューションです。そのコンパクトなボディと多様なツールセットは、さまざまなアプリケーションで正確なテストと測定のための大きな基盤を提供します。