中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293661232 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、高度な半導体デバイスのテストと検証のために設計された高度な自動プローバです。このプローバは、最高レベルの精度で幅広いデバイスパラメータとプロセスパラメータを正確に監督する能力を備えています。顕微鏡、電動Z軸、高解像度イメージングシステムなどが特長です。この顕微鏡には共焦点光学アタッチメントが含まれており、高精度の電気パラメータを測定することができます。この顕微鏡はスキャン速度が非常に速く、繊細な微小回路の試験に適しています。z軸の電動化により、チャック上の試験試料の正確な位置決めが可能です。また、高解像度イメージングシステムにより、ナノメートルレベルまでの特徴や特性を正確に測定できます。TEL P8には、電圧、温度、電流、抵抗、容量など、さまざまなパラメータを監視する機能があります。デバイス検証に使用されるテストパラメータは、テスト中の特定の製品に対して正確に調整および最適化することができます。これらのパラメータを正確に制御することで、高品質で正確なデータが保証されます。proberはまたテストの下で装置の接触抵抗、漏出流れおよび物理的特性をテストすることができます。また、デバイスに存在する電磁干渉や他のコンポーネントによって引き起こされる故障パターンを検出することもできます。また、テストパラメータの偏差を自動的に検出し、プロセスエラーを防ぐことができるプロセス制御システムを内蔵しています。TOKYO ELECTRON P 8は、その特徴に加えて、MTBF（平均故障間隔）定格が30万時間を超える信頼性の高い製品です。これは、最高品質基準に細心の注意を払って設計されていることを示しています。また、-20°C〜+40°Cの広い温度範囲を誇り、幅広い温度環境での半導体デバイスの試験・評価が可能です。全体として、P8は高度で信頼性の高いプローバであり、微小回路の正確で正確で信頼性の高い試験を可能にします。その高度な技術は、ユーザーにテストと検証プロセスに対するより高いレベルの制御を提供し、高いレベルの精度と再現性を保証します。