中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293661227 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 proberは、半導体ウェーハ内のダイとプローブの電気界面特性を検出・測定する高性能な半導体試験装置です。マイクロエレクトロニクスデバイスのエンタープライズレベル分析のための高度な自動装置です。これは、最大8つのXYZステージアセンブリ、プローブ、プローブブレード、および統合された高圧影響モジュールを含む精密機械および電気部品で構成されています。TEL P8 Proberは、ウェーハを便利かつ正確に取り扱うためのローディングシステムを備えています。プロービングのために、XYZステージアセンブリは、ステージの急速な横転を確保するために、すべての軸に線形運動と鋼球リードねじを使用します。最先端のプローブは、高精度の圧電アクチュエータと適合したプローブチップを使用して、正確なアライメントと接触を実現します。ドレンフィルタと組み合わせた高電圧の影響モジュールも、迷惑キャパシタンスと静電カップリングの影響を最小限に抑えるように特別に設計されています。TOKYO ELECTRON P 8 proberは、複数のポイントを同時に設定、インデックス、測定できます。光学エンコーダユニットを備えた自動ステージキャリブレーションと、リアルタイム補間機を備えており、より高い性能と精度を実現しています。データシートグラフの表示や複雑なデータの他のアプリケーションへのエクスポートを可能にする高度なデータ操作をサポートしています。自動フォルト検出ツールとセルフテストを実行する機能により、ダウンタイムを最小限に抑え、堅牢で信頼性の高い製品です。TEL P 8 proberは、高度なデジタル遅延アセットを使用して、精度を高め、データの処理を高速化するために、測定の間に細かい遅延などの改善された機能を提供します。また、電流、電圧、抵抗、静電容量、インピーダンス、Qファクタなど、幅広い出力パラメータに対応しています。さらに、温度依存効果のプロービングや紫外線（UV-VIS）のポスト測定などの高度な機能設定にも対応しています。TOKYO ELECTRON P8 Proberは、半導体ウェーハのプロービングを容易かつ正確に行う高精度な装置です。安定した精密な試験環境を確保しつつ、電気界面特性の様々な測定に対応しています。複雑な実験やテストシナリオの効率的な実行を可能にするさまざまな機能を備えています。