中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293658823 を販売中

TEL Prober TEL/TOKYO ELECTRON P-8は高精度サンプリング装置で、半導体をはじめとする部品の測定において信頼性と精度を提供します。この高度なプローバは、シリコンウェーハ基板、マイクロ波ICなど、あらゆる種類の材料を測定できます。TSV（シリコン経由）プロービングを自動化し、デバイスの特性評価に低消費電力の非接触スキャン熱画像システムを提供します。TEL P8には、サンプルの安定性と正確なスキャン位置を確保するための3軸サンプルステージが含まれています。プローバー自体は、耐久性のあるダイハードで構成されています。すべての可動部品は耐久性および正確さのためにテストされ、証明されます。このユニットは、あらゆるタイプのMEMSデバイスと互換性があり、パフォーマンスパラメータを非接触解析するための25µm分解能スキャン機能を提供します。TOKYO ELECTRON P 8は、製造工程管理、プロセス統合に最適です。このマシンは、各サンプル接点の正確な接触荷重を検出する調整可能な荷重フィードバックツールを備えています。この情報は、デバイスの特性評価を向上させるための正確な読み取りを保証するのに役立ちます。このアセットには、スキャンと測定を高速化するための大型平面光学と、単点測定機能（0。3 µm解像度）を備えた高精度なデータ取得も含まれています。この高度なプローバーは、高度なCross-3D技術も提供しており、ユーザーはピットオーブンやバンプ相互接続などの操作を迅速かつ正確に実行できます。このモデルの3つのカメラは、完全なデバイス特性評価のためのサンプルカバレッジを確保するのに役立ちます。P8はまた、さらなる分析とレポート機能のためのさまざまなラボソフトウェアソリューションと統合しています。TOKYO ELECTRON P8は、信頼性の高い正確なプローバテクノロジーを必要とする方に最適な製品です。その基盤技術は、高精度の測定を保証し、詳細なデバイスの特性評価を提供します。耐久の設計および最先端の技術はこの装置が安定性および精密と長年にわたり作動できることを保障します。その高度なCross-3D機能により、ユーザーは複雑な操作を簡単かつ正確に実行でき、統合されたソフトウェアソリューションは追加の柔軟性と分析機能を提供します。TEL P-8は、半導体製造やプロセス統合のあらゆるニーズにお応えします。