中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293620491 を販売中

製造業者
TEL / TOKYO ELECTRON
モデル
P-8
ID: 293620491
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 1995
Prober, 8" OS: Gzz00-R014.08QH CPU Type: VIP3A Hot gold chuck Vacuum: ≤-50 kPa Main air / Vac hose size: 6Ø Top loader Bernoulli and pad sub chuck Chuck air blower Solenoid block Control board OCR COGNEX insight 1700 Air pressure: 0.45 MPa - 0.7 MPa SCSIHSD: 70-80% Increased speed Memory: 8G / 16G SD Card SCSI Interface Power: 5V DC Power supply: 200-240 V, 50-60 Hz, Single phase, 7.5 Amps 1995 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、電子システムの性能を効果的にテストするために設計された高度なプローバです。非常に精度の高いレーザーを使用して集積回路の特性を測定し、エンジニアはさまざまな条件でデバイスレベルの性能を評価できます。このような条件には、極端な温度、熱、衝撃、静的および動的性能試験が含まれます。TEL P8には、その能力と精度を最大限に引き出すために設計されたさまざまな機能があります。そのスキャンヘッドは、各テストの理想的な焦点をインテリジェントに維持し、正確さを確保し、ずれに起因するエラーのリスクを低減する自己キャリブレーティングフォーカスシステムを備えています。レーザダイオードは精密なプローブとして機能し、AI機能により回路内の複雑なパターンを検出し、外部要因に干渉することなくこれらの測定値を正確にキャプチャできます。TOKYO ELECTRON P 8には、自動テストと直感的で直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを可能にするさまざまな高度なソフトウェアも含まれています。グラフィカルユーザーインターフェイスを通じて、エンジニアは、特定の動作温度でのテスト結果や回路特性など、さまざまなテスト結果をリアルタイムでレビューおよび分析することができます。リモートターミナルにアクセスして、デスクトップまたはワークステーションでテストを表示し、データを安全なクラウドに保存することもできます。P-8のモジュール設計により、他の試験システムや他のコンポーネントと容易に統合することができます。例えば、過酷な条件下で動作する集積回路の性能を正確に測定するための温度と衝撃入力を取得するために、テストセルと直接インタフェースすることができます。全体として、P8は、エンジニアがさまざまな条件で集積回路の性能を効果的にテストできるように設計された高度なツールです。精密レーザープローブ、AI機能、高度なソフトウェア、モジュール設計により、電子システムの性能を評価するために使用できる非常に正確で信頼性の高いテストを可能にします。
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