中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293609216 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-8は、半導体プロセスの開発やデバイス特性評価に使用されるよう設計されたプローバです。高性能プローバ、コントローラ、専用ソフトウェアを組み込んだ完全自動測定システムです。TEL P8は、TELから期待できる精度、高精度な平坦性、剛性、高速動作、信頼性を備えています。TOKYO ELECTRON P 8 Proberには、精密な位置決めのためのエンコーダとプローバの正確な速度位置決めのためのモーターを内蔵した精密なモーションコントロールシステムが搭載されています。また、精密な位置決め、試験下のデバイスの完全なカバレッジ、平坦性、剛性と信頼性の高い性能を確保するために高度なプローバー技術を組み込みます。P8の傾斜ヘッドは、デバイスパッドの極性とプロービング中の測定ポートの正確なアライメントに関係なく、正確な位置決めを可能にします。また、TEL/TOKYO ELECTRON P 8は、各種ダイボンディングツールや各種測定ツールなど、数多くのプロセスツールに対応するよう設計されています。また、TOKYO ELECTRON P8は、TOKYO ELECTRON計測ツールインターフェイスとの互換性があり、簡単な設置、操作、メンテナンスが可能です。TEL P 8プローバーは高精度で、毎秒最大17ミリメートルの速度での移動が可能です。さらに、デュアルチップ設計により、複数の異なるサイズのデバイスとさまざまなパッド構成でスキャン精度を向上させます。このプローバには多機能パッドも含まれており、3種類のICを一度に接触試験することができます。P 8 proberは、TEL P-8モデル用に特別に設計された専用プロバーソフトウェアを搭載しています。このソフトウェアには、小型および大型ダイに最適化されたプロービングアルゴリズムと、さまざまなパッド構成が含まれます。これらのアルゴリズムにより、測定精度が向上し、チップ（ダイ）の高さと温度をモニタリングしながらプロービングすることができます。TOKYO ELECTRON P-8は、高い精度を提供するために設計されており、ユーザーは信頼性の高い測定を行うことができます。堅牢な構造と幅広い機能により、さまざまな試験および測定アプリケーションに適しているため、半導体プロセス開発およびデバイス特性評価に最適なプローバです。