中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9276346 を販売中

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ID: 9276346
ウェーハサイズ: 12"
Wafer prober, 12" 4156C Tester through switching Matrix B2200A Test head Loader type: Single FOUP open X, Y Probing accuracy: ±1.8μm Optical system: ASU / BCU-Ⅰ Probe card size: Up to 350 mm Wafer cassette: FOUP Constant temperature chuck: 25°C to 150°C (Air cool, +/- 3°C) ATE Low leakage probe card interface Does not include Hard Disk Drive (HDD) No hinge.
TELまたはTEL/TOKYO ELECTRON P-12XLnは、ハイエンド半導体デバイスの製造に特化した精密プローバです。このプローバは、高解像度のウェーハプロービング環境で正確な結果と優れた性能を提供します。このプローバーは、12インチ水平ステージ、高解像度プローブヘッド、高速容量を備えています。精密プローバは超精密な動きを利用し、デバイス上のすべてのピンの正確な位置決めとプロービングを可能にします。高度な3軸モーションシステムにより、正確なプロービングとコンタクトのアライメントが可能です。可変性の高解像度プローブヘッドにより、高解像度の大面積デバイスのテストが可能です。さらに、1〜10kgの調整可能な保持圧力調整、デバイス表面へのプローブ先端圧力の厳格な制御、および反復可能な結果を提供するフォースセンシングシステムを誇っています。TOKYO ELECTRON PROBERは、ウェーハプロービングの高速処理能力も備えており、テスト速度は毎秒50回までです。優れた振動遮断性能により、プローブヘッドの安定性が確保され、温度や環境の変化に応じて正確な接触評価が可能です。プローバーはまた、コンパクトなデザイン、8〜12インチの大型ウェーハサイズ、最小ムーブメントスケールの2µmを備えています。椅子は独立した電気モーターによって駆動される複数の軸に分割され、高性能プローバーに必要な運動の全範囲に達することができます。高精度で高性能なTEL P 12 XLNは、幅広い生産環境であらゆるハイエンド半導体デバイスのプロービングに最適です。これは、高度な技術のニーズを満たすための最高のウェーハプロービングソリューションの1つです。
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