中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9274820 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+proberは、半導体デバイスのウェーハ特性評価に特化した、堅牢で信頼性の高い半導体試験・検査・解析機器です。Proberは、半導体デバイスをテストする際に精度と精度を高めるように設計された幅広い機能を備えています。ウェーハの取り扱いと位置決めのための3軸デカルト座標システムを搭載しており、デバイス上の個々のウェーハを分離して特徴付けることができます。高精度のリニアモータ駆動ヘッドを搭載し、最適で再現性の高い試験位置を確保します。このプローバーには真空チャックテーブルも装備されており、テスト中にウェーハに安全で信頼性の高い接合を提供します。TEL P12XLN+には高解像度のプロバーカメラが搭載されており、個々のデバイスの特性を正確に分析することができます。これにより、より大きなサンプル領域の正確な特性評価が可能になり、トータルテストスループットが向上します。プロバーカメラに加えて、8インチのヒドロキシーリアルタイムオーバーヘッドモニターを搭載し、すべての解析結果やテスト結果をわかりやすく表示します。P 12 XLN+proberには、半導体テストプロセスを合理化するように設計された直感的なユーザーインターフェイスも付属しています。これには、コマンドへの迅速な応答を可能にするタッチスクリーンディスプレイと、現在の測定値とテスト結果のグラフィカルオーバーレイが含まれます。P12XLN+には、マルチレベルスキャン解析などの高度な測定技術も組み込まれており、正確で繰り返し可能な試験結果を保証します。最終的に、プローバは自動化されたテストのための強化されたロボットアームシステムで設計されており、ユーザーは中断することなく迅速かつ正確にテストを繰り返すことができます。この自動化された側面は、再現性の向上、生産性の向上、開発プロセスの短縮に役立ち、半導体試験に関連するコストの削減に役立ちます。結論として、TEL/TOKYO ELECTRON P12XLN+proberは、半導体ウェーハの特性評価用に特別に設計された非常に信頼性が高く正確な装置です。ロボットオートメーションやカメラベース解析などの高度な機能により、半導体テストプロセスを高速化し、正確な結果を保証します。直感的なユーザーインターフェイスと高度な測定技術は、デバイスの迅速かつ正確なテストを保証するように設計されています。