中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236130 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn Proberは、様々な半導体部品の性能を検証する自動プローバーです。このプローバは、デュアルゲートFETやアナログコンポーネントなどの高性能設計のテストに適しています。最小0。1 μ mのギャップ精度で最大600pinの部品を探索でき、1 mmあたり256ピクセルの高解像度を実現します。さらに、プローバは1。0 milのトレース/スペース幅でコンタクトパッドの形状に対応して測定することができます。TEL P 12 XLNは、高速ステッピングモータ駆動の多軸モーションプラットフォームを搭載し、サンプルと解析信号の接触のための複数のインターフェイスメカニズムを備えています。Proberは手動インターフェースとコンピュータ化インターフェースの両方を備えており、堅牢な信号解析とテスト開発を可能にします。この装置は、デュアルゲートFETテスター、コンタクトチェッカー、信号発生器など、さまざまなプローブおよび信号調整ハードウェアを提供しています。東京エレクトロンP-12 XLNには、高速スキャン機能、測定波形の自動処理、自動プローブ補正、複数の試験条件の自動切り替えなど、幅広い動作モードと機能を可能にする高度なエレクトロニクスが搭載されています。P-12 XLNは、DC、 AC、波形生成波形などの幅広い信号を解析および測定できます。このシステムはさらに分析のために波形を記録するための様々な統計ツールも提供しています。また、TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLNには複数の画像、色、音響処理機能が搭載されており、波形の特性を簡単に解釈できます。このユニットにはビームおよびリングイメージングシステムが付属しているため、プローブトレースとプローバー電極の正確な位置決めが可能です。これにより、proberはテスト中のデバイスに正確に接触することができます。さらに、P 12 XLNには温度制御装置が搭載されており、コンタクトパッドとサンプルの温度を正確に監視することができます。P-12XLnには、ダストスクライバー、ダストブラスター、ダストサッカーなどのツールの信頼性とパフォーマンスを向上させるためのさまざまなメックツール、およびデバイス処理用のプレッサーおよびピックアップアセットも備えています。これらのすべてのツールは、モーションプラットフォームとともに、プローバの制御された正確なパフォーマンスを可能にします。プローバは、オシロスコープ、デジタルマルチメーター、ロジックアナライザなどのさまざまなテストデバイスと互換性があります。結論として、TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN Proberは、高性能な半導体コンポーネントをテストするための先進的なツールです。Proberは、高速スキャン機能、波形の自動処理、自動プローブ補償、複数のテスト条件の自動切り替えなど、幅広い機能とツールを備えています。さらに、ユーザーが効果的に波形特性を解釈することができる異なる画像、色、および音処理機能を備えています。これらのすべての機能は、メカツールと温度制御モデルに加えて、TEL P-12XLnさまざまなプロバーテストアプリケーションに最適なツールです。