中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236129 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn Proberは、半導体メーカーがシリコンウェーハとその化学特性を測定、検査、評価するために使用する先進的なウェーハ検査ツールです。このプローバは、0。01x〜0。003mmの解像度でウェーハの真円度を正確に測定する多軸位置決め技術を実装しています。さらに、このツールは、ウェーハの複数の非接触点の深さ、サイズ、形状を同時に測定することができます。また、ウェーハ溝を調整可能な装置を備えており、半導体のケミカルフィルム特性の様々な解析・評価を行うことができます。TEL P 12 XLNは、レーザー干渉計システム（LIS）を使用してオンライン厚さ測定を行います。このユニットは、レーザー光源、光学一式、スキャンレンズ、フォトセンサーで構成されています。レーザー光はウェーハ表面に照射され、フォトセンサーによって検出される干渉パターンを作成し、正確で再現性のある測定を可能にします。このプローバーには、ウェーハをこのツールのチャンバーに正確に配置できるロボットオートメーション機能が装備されており、ウェーハを配置するアクションが毎回正確に実行されます。東京エレクトロンP-12 XLNは、再現性の高い精度と精度により、生産後の信頼性の高い生産を実現します。高精度の東京エレクトロンP 12 XLNは、1mm〜4mmの可動範囲を持つ高精度の大干渉ステージを備えています。これにより、傾きとぐらつきを最小限に抑えながら、さまざまな厚さにわたって高精度な測定が可能になります。TOKYO ELECTRON P-12XLnは、その柔軟性と信頼性が業界で高く評価されています。幅広いウエハータイプに対応し、複雑なフィルムを測定することができます。また、水位、温度、圧力レベルを監視する機械を誇り、品質管理のための一貫した測定値を確保しています。ユーザーフレンドリーな操作を継続的に行うために、TEL P-12XLnは便利で直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）とタッチスクリーンベースのコントロールパネルを備えたユーザーフレンドリーなツールです。また、事故やダウンタイムを減らすための多くの安全機能も備えています。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN Proberは、高度な多軸測位技術、ロボットオートメーション、大型干渉計ステージにより、高精度な結果を提供するパワフルで汎用性の高いツールです。使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス、信頼性の高いデータ読み取り、安全な操作により、このプローバは半導体製造にとって効果的で貴重なツールです。