中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9228674 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+は、現代の半導体技術のために設計されたプローバーです。デバイスおよび相互接続パラメータを効率的に測定および分析するための最新のテクノロジーとユーザーインターフェイスを備えています。それは振幅および統計分析の区域で広く利用されています、型および相互接続の特性化、プロセス最適化および収量の改善。TEL P12XLN+は、12インチ基板ホールディングチャックを搭載し、複数の位置決めと測定機能を提供します。標準のプローブアームが付属しています。これは、すべての方向で回転することができ、熱およびマイクロマニピュレータを含むさまざまなプローブ、および4倍のレンズ顕微鏡が装備されています。また、さまざまな画像処理および分析ツールも含まれています。アームは毎分600armの最大速度で移動および回転することができ、プローブ力を正確に測定するための圧力フィードバックが装備されています。東京電子P 12 XLN+には高性能スキャン電子顕微鏡が搭載されており、デバイスの高精細画像を測定することができます。この顕微鏡には、20インチの長時間作動距離の対物レンズ、アクロマチックおよびアポクロマチックコンデンサー、および5nmのスポットサイズが装備されています。また、ナノメートル範囲のデバイス機能を測定するための可変倍率ステージが付属しています。このシステムの強力なデータ収集および分析機能により、ユーザーはデバイスや相互接続から詳細な情報を得ることができます。データロギングとグラフ作成機能が搭載されており、サンプルの効果的な履歴追跡と比較を可能にします。さらに、P 12 XLN+には、分析テストシステムと自動化されたプローバーの両方に直接インタフェースが装備されています。TOKYO ELECTRON P-12XLn+は、総合的な測定・解析機能を提供するだけでなく、システムのカスタマイズやカスタム測定・解析プログラムの設計も可能です。柔軟なハードウェアおよびソフトウェア構成オプションにより、ユーザーは正確なニーズを満たすカスタマイズされたプローバを作成できます。全体として、TEL P-12XLn+は、効率的なデバイスと相互接続特性評価用に設計された高度なプローバです。パワフルなデータ収集と分析機能、カスタマイズ可能なシステムのオプションを提供し、半導体企業にとって貴重なツールとなります。